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卡迪諾科技(北京)有限公司
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本系統采用電阻加熱方式，可測讀國產、進口的各類型片狀、桿狀、粉末狀的探測元件。讀出器由串口連接PC，WinREMs 操作軟件提供完善的劑量算法、發光曲線分析、加熱方式設定、時間溫度控制、維護和數據記錄功能。儀器只有一個操作按鈕及三個指示燈，操作簡單。
● 金屬盤，熱電耦加熱，可達600℃；
● 根據選擇的劑量元件的形狀，選擇合適的樣品盤；
● 充氮氣，均勻加熱樣品，降低假性號；
● 劑量算法滿足DOELAP 和NVLAP 認證要求；
● 讀數周期：標準TTP，每片閱讀時間20s；
● 參考光源穩定性：一定溫度下，連續10 次讀數的偏差<>
● 升溫曲線重復性：±1℃；
● 穩定性：連續讀10 次，標準偏差小于1.0µGy（TLD700）；
● 暗電流：相對小于50µGy（137Cs，TLD700）；
● 高壓穩定性：±0.005%/ 小時，0.02%/8 小時；
● 加熱溫度：400℃（普通熱電耦），600℃（特殊熱電耦）。
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