ATP5010制冷型高性能高分辨率光纖光譜儀，它采用204864像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導(dǎo)體制冷技術(shù)，CCD可工作在設(shè)定的恒溫環(huán)境（Z低可達(dá)-15C），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手提高了約2倍），而且提高了ATP5001的測(cè)量可靠性，測(cè)量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。

詳細(xì)介紹

ATP5010制冷型高性能高分辨率光纖光譜儀產(chǎn)品概述

ATP5001是奧譜天成研制的高性能制冷型微型光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導(dǎo)體制冷技術(shù)，CCD可工作在設(shè)定的恒溫環(huán)境（zui低可達(dá)-15ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手提高了約2倍），而且提高了ATP5001的測(cè)量可靠性，測(cè)量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。

同時(shí)，奧譜天成為ATP5001特別定制了超低噪聲CCD信號(hào)處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*水平。

ATP5001可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過(guò)USB2.0或者UART端口，輸出測(cè)量所得的光譜數(shù)據(jù)。

ATP5001只需要一個(gè)5V直流電源供電，非常便于集成使用。

ATP5010制冷型高性能高分辨率光纖光譜儀特點(diǎn)：

Ø 探測(cè)器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
Ø 探測(cè)器像素：2048×64
Ø 超低噪聲CCD信號(hào)處理電路
Ø 光譜范圍: 180-1100nm
Ø 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
Ø 光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T
Ø 積分時(shí)間：2ms-130s
Ø 供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
Ø 18 bit, 570KHz A/DConverter
Ø 光輸入接口：SMA905或自由空間
Ø 數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
Ø 20針雙排可編程外擴(kuò)接口
典型應(yīng)用：
Ø LED分選機(jī)；
Ø 多參數(shù)在線水質(zhì)分析儀；
Ø 微量、快速分光光度計(jì)；
Ø 光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析
Ø 熒光光譜儀；
Ø 生化分析儀；
Ø 透過(guò)率、吸光度檢測(cè)；
Ø 反射率檢測(cè)；
Ø LIBS；

ATP5001-

類型	線陣背照式CCD (制冷到 -15ºC)
探測(cè)光譜范圍	180-1100 nm
有效像素	2048×64
像元尺寸	14μm×14μm
全量程范圍	~200 ke^-
靈敏度	6.5 uV/e-
暗噪聲	6 e-
光學(xué)參數(shù)
波長(zhǎng)范圍	190-1100 nm
光學(xué)分辨率	0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍）
性噪比	>1300:1
動(dòng)態(tài)范圍	5000：1
工作溫度	-10-40 ^oC
工作濕度	< 85%RH
光路參數(shù)
光學(xué)設(shè)計(jì)	f/4 交叉非對(duì)稱C-T光路
焦距	40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狹縫寬度	5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制
入射光接口	SMA905光纖接口、自由空間
電氣參數(shù)
積分時(shí)間	1 ms - 130 second
數(shù)據(jù)輸出接口	USB 2.0
ADC位深	18 bit
供電電源	DC 5V±10%
工作電流	<2.3A
存儲(chǔ)溫度	-20°C to +70°C
操作溫度	-10°C to +40°C
物理參數(shù)
尺寸	120×80×46 mm³
重量	0.5 kg
Sealing	Anti-sweat