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巨力光電(北京)科技有限公司
OLED發光效率測量系統
我公司推出OLED光譜性能測試系統,OLED發射光譜測量系統,OLED光譜分析儀,OLED光電性能測試系統(IVL曲線,外量子效率EQE),OLED載流子遷移率測量系統、光電性能評估系統以及軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有效的測試工具。
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應用:
有機發光器件OLED
量子點LED
鈣鈦礦LED等
主要測試功能:
OLED效率測量/EQE測量,功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A;
發射角度-光譜測量;
光譜&顏色測量@發射角;
CIE xyY和顯色指數CRI;
可視角測量;
IVL(電流—電壓—亮度)測量;
PL光致發光和EL電致發光測量;
p,s極性測量;
主要技術規格:
角度范圍:-85°~+85°;
光譜范圍:360nm~880nm,分辨率1.2nm;
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