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上海巨納科技有限公司
簡要描述:動態光散射粒徑分布測定裝置新型號,高靈敏度、高精度的測量;*表征單一體系納米尺度粒子;*解析納米粒子的物質結構。主要應用范圍為:陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨
動態光散射粒徑分布測定裝置新型號,高靈敏度、高精度的測量;*表征單一體系納米尺度粒子;*解析納米粒子的物質結構。
主要應用范圍為:陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨
粒子直徑測定:
超寬動態光散射范圍:0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器,實現高性能化
在單一納米粒子光學系統中,采用更低雜散光90度檢測光學系統
雙光路系統(90度和173度)適用于更寬更濃度范圍的樣品測量,可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定
產品特點:
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定
HORIBA自主研發的微量電泳樣品池,可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
取樣后,僅需按測定開始按鈕即可,操作簡單
粒子直徑分布測定圖例
(卵清蛋白) 醋酸緩沖劑pH4.3 鹽酸硫胺素(1鹽酸鹽)
分子量:約14000 分子量:337
濃度:0.1mg/ml 濃度:300mg/ml
平均直徑:4.0nm 平均直徑:0.5nm
Zeta電位
NIST SRM1980 α-FeOOH 電泳遷移率:2.53±0.12umcm/Vs
<測定結果>電泳遷移率:2.53umcm/Vs,Zeta電位:32.9mV
LUDOX TM SiO2,0.01mol/L KCI
<測定結果>Zeta電位:-38.3mV
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