不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的,進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。
X熒光光譜儀主要用途:
X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度,可以 測定元素含量。
近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域,特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。
大多數分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
X射線熒光分析儀原理及特點:
熒光,顧名思義就是在光的照射下發出的光。
從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以各自的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發了,處于激發態,這時,其他的外層電子便會這一空位,也就是所謂躍遷,同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
量子力學知識告訴我們,X 射線具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波。看作粒子時的能量和看作電磁波時的波長有著一一對應關系。這就是的普朗克公式:E=hc/λ。顯然,無論是測定能量,還是波長,都可以實現對相應元素的分析,其效果是一樣的。
為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能滿足生產過程的需要。目前眾多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指標,大都配備了相應的分析儀。
X熒光光譜儀分類:
X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型,以能量特征為原理的稱為能量色散型。
東莞市鴻海精密電子科技有限公司本著“合作誠如戰略伙伴。共贏分享,創新立足巨人肩膀,服務放眼和諧社會"的經營理念,為更好地回饋新老客戶,我們將一如既往的堅持“質量、客戶至上"的服務宗旨,使企業不斷邁上新的臺階。