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行業(yè)產(chǎn)品
上海納嘉儀器有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)NanoFlip
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廠商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間:2022-09-14 17:37:36瀏覽次數(shù):189次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測試進(jìn)行高精確度的測量
NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測試進(jìn)行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中,NanoFlip在測試(例如柱壓縮)方面表現(xiàn)優(yōu)異,可以將SEM圖像與機(jī)械測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測量迅速,這對(duì)于惰性環(huán)境(例如手套箱)中測試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件,例如InForce50電磁驅(qū)動(dòng)器,可以提供定量結(jié)果,從而為材料研究提供有價(jià)值的解決方案。
產(chǎn)品詳細(xì) 主要應(yīng)用 提供選項(xiàng) 相關(guān)產(chǎn)品
NanoFlip提供高精度XYZ位移,可定位樣品進(jìn)行測試,還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制,可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測試方法,涵蓋一系列測試協(xié)議,并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像,并與機(jī)械測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°,無需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測試的無縫過渡。
InForce 50驅(qū)動(dòng)器,用于電容位移測量,并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
InQuest高速控制器電子設(shè)備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)
SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能
硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
連續(xù)剛度測量
高速材料性質(zhì)分布圖
ISO 14577硬度測試
聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)
定量刮擦和磨損測試
大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
支柱和微球制造
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