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丞普諾儀器(蘇州)有限公司
日立測厚儀產品描述品牌一六儀器型號XTU-50A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍CI(17)-U(92)不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍Li(3)-U(92)分析軟件同時分析23個鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準直器φ0
品牌 | 一六儀器 | 型號 | XTU-50A |
類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺移動范圍 | 50mm*50mm |
XY軸工作臺承重 | 5KG | 測量元素范圍 | CI(17)-U(92) |
不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | Li(3)-U(92) |
分析軟件 | 同時分析23個鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準直器 | φ0.5mm、φ0.2mm、兩準直器任選一種 | 測量距離 | 具有距離補償功能,可改變測量距離測量凹凸異行物品,變焦距離可達0-30mm |
對焦方式 | 高敏感鏡頭,手動對焦 | 樣品臺移動 | 高精密手動XY滑軌 |
其他附件 | 電腦一套,噴墨打印機,附件箱,12元素電鍍液測量杯(選配)片,標準片(選配) |
丞普諾儀器(蘇州)有限公司主營產品有:視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設計與開發、模具保護監視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發。
鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
X射線膜厚儀采用高度定位激光,可自動定位測試高度,定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制平臺,鼠標點擊的位置就是被測點。高分辨率探頭使分析結果更加。良好的射線屏蔽作用,測試口高度敏感性傳感器保護。
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
歡迎各界朋友蒞臨丞普諾儀器(蘇州)有限公司參觀、和業務洽談。您如果對我們感興趣的話,可以直接聯系我們或者留下。
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