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丞普諾儀器（蘇州）有限公司
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日立膜厚儀產品描述品牌一六儀器型號STU-50B類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力標配涂鍍層分析范圍Li(3)-U(92)分析軟件同時分析23個鍍層24種元素X射線裝置微聚焦加強型射線管準直器φ0
| 品牌 | 一六儀器 | 型號 | STU-50B |
| 類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺移動范圍 | 50mm*50mm |
| XY軸工作臺承重 | 5KG | 測量元素范圍 | CI（17）-U（92） |
| 不同層相同元素檢查能力 | 標配 | 涂鍍層分析范圍 | Li(3)-U(92) |
| 分析軟件 | 同時分析23個鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦加強型射線管 |
| 準直器 | φ0.5mm、φ0.2mm、φ0.1mm、φ0.05mm四準直器任選一種 | 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異行物品，變焦距離可達0-30mm |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 | 樣品臺移動 | 高精密XY手動滑軌 |
| 其他附件 | 電腦一套，噴墨打印機，附件箱，12元素片，電鍍液測量杯（選配）標準片（選配） |
丞普諾儀器（蘇州）有限公司產品*可以與國外同類產品相媲美。本公司擁有行業的技術人才具有豐富的設計制造經驗。多年來與各大學、科研院所保持著緊密的合作關系。
鍍層測厚儀測量方法：
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀測量原理
磁吸力測量原理及測厚儀
磁鐵（測頭）與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼，接力簧，標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現場質量控制。
磁感應原理測厚儀磁感應原理是利用測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領域更廣。當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來發展了數字顯示式，電路設計也日趨完善。
鍍層測厚儀檢測的方法
無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，滄州歐譜又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。
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