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北京北信科遠儀器有限責任公司
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BX-G105 自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏"）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
產品用途：
BX-G105 自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
儀器特點：
1. 經典消光法橢偏測量原理：儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程
2. 方便樣品水平放置方式：才用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放
3. 緊湊的一體化結構：集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用
4. 高準確性的激光光源：采用激光作為探測光波，測量波長準確度高
5. 豐富實用的樣品測量功能：可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等
6. 便捷的自動化操作：儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數據分析、儀器校準等操作
7. 用戶使用權限管理：軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用
8. 可擴展的儀器功能上：利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實驗、旋光等
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