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梅特勒XS 分析天平

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更新時間：2023-03-02 13:01:57瀏覽次數：137次

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產品簡介

梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優勢關注于一個目標：使您更加簡單、安全地工作，從而實現更高的效率。

詳細介紹

讓高生產率的稱量工作變得簡單:

梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優勢關注于一個目標：使您更加簡單、安全地工作，從而實現更高的效率。

梅特勒XS 分析天平性能特點:

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
●可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計，實現天平的快速清潔
●豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態稱量
●GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保天平始終正確工作

觸摸屏（TouchScreen）：背亮式觸摸屏是天平操作更加快速簡便。中文界面和圖符顯示的用戶操作指南清晰易懂，幫助您有效節省操作時間。

網格秤盤（SmartGird）：有效降低稱量室中氣流對稱量的影響，從而縮短穩定時間。稱量過程中如果出現差錯，樣品會直接散落在網格秤盤（SmartGird）下的金屬底盤上，因而不會影響稱量結果，且不浪費您的樣品。

技術參數:

型號	zui大稱量值 [g]	可讀性 [mg]	重復性（sd） [mg]	線性誤差 [mg]	典型穩定時間 [s]	秤盤尺寸（W×D）[mm]
XS105DU	41/120	0.01/0.1	0.02/0.1	0.2	4/1.5	78×73
XS205DU	81/220	0.01/0.1	0.02/0.1	0.2	4/1.5	78×73
XS64	61	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS104	120	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS204	220	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS204DR	81/220	0.1/1	0.1/0.7	0.5	3.5/1.5	78×73