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更新時(shí)間：2024-04-29 09:57:36瀏覽次數(shù)：124次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)MDPpicts溫度依賴(lài)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)MicrowaveDetectedPhotoInducedCurrentTransientSpectroscopy微波探測(cè)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)，非接觸且無(wú)損傷，用于溫度依賴(lài)的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級(jí)的電性能表征
Microwave Detected Photo Induced Current Transient Spectroscopy
微波探測(cè)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)，非接觸且無(wú)損傷，用于溫度依賴(lài)的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級(jí)的電性能表征。
靈敏度：對(duì)電子缺陷表征的 靈敏度
圖1. 與溫度有關(guān)的載流子發(fā)射瞬態(tài)
溫度范圍：液氮(77k)至500k。可選:液氦(4k)或更高溫度
衰變常數(shù)范圍：20納秒到幾毫秒
污染測(cè)定：測(cè)量基礎(chǔ)的陷阱能級(jí)：陷阱的活化能和俘獲截面，基于溫度和注入的壽命測(cè)定
重復(fù)性：> 99.5%，測(cè)量時(shí)間：< 60分鐘。液氮消耗：2升/次
彈性：可從不同波長(zhǎng)(從365nm到1480nm)選擇不同種類(lèi)的材料
可訪問(wèn)性：基于IP的系統(tǒng)允許來(lái)自世界任何地方的遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持
從Arrhenius斜率(圖3)可以確定活化能。
利用這種新型的商用MDPpicts設(shè)備，可以在20~500k范圍內(nèi)測(cè)量溫度依賴(lài)性的光電導(dǎo)瞬態(tài)。在過(guò)去，Si, GaAs, InP, SiC和更多的半導(dǎo)體已經(jīng)成功采用了這種方法進(jìn)行研究。
圖2. 不同ID的評(píng)價(jià)
圖3.Arrhenius曲線(xiàn)圖
圖4. 不同溫度的Cz-Si晶圓片的MD-PICTS圖譜
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