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TXRF全反射X射線熒光光譜儀

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產品型號S4 TSTAR

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更新時間：2023-05-16 07:38:46瀏覽次數：221次

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產品簡介

產品描述：X射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。

詳細介紹

S4 TStar — TXRF的明星
數十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成為原子吸收光譜法（AAS）以及電感耦合等離子體發射光譜法（ICP-OES）或質譜法（ICP-MS）的理想的替代性方法。現在，S4 TStar 在臺式TXRF 光譜儀的性能、自控和質量方面開創了新的標準。

優異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。

ICP 只能分析溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進行元素分析
圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學樣品，直接分析細胞培養物、涂片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層
定制的反射介質