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JEOL 分析型電子掃描電鏡

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產品型號JEM-2200FS

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廠商性質其他

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更新時間:2024-02-09 11:46:26瀏覽次數:165次

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產品簡介

JEOL 分析型電子掃描電鏡

詳細介紹

JEM-2200FS分析型電子顯微鏡配備場發射電子槍和Ω型內置式能量過濾器(Omega過濾器)。
利用過濾器的功能,不僅可以進行樣品中的元素分析,還能分析化學結合狀態,從零損失像和能量過濾像中獲得感興趣的有用信息。

鏡筒內置式Omega過濾器

鏡筒內置式能量過濾器能獲取高精度的能量過濾像及電子能量損失譜,優化設計的過濾器能提供無畸變的過濾像。

控制系統

電子槍、透鏡、過濾器等電子光學系統、測角臺、抽真空系統等全部由計算機控制。系統的穩定性高,因此能獲得穩定的數據

成像系統

采用四級中間鏡和兩級投影鏡的新成像系統,在很大的倍率和相機長度范圍,實現了TEM像及衍射花樣的磁轉角補償(無磁轉角)。

壓電陶瓷控制測角臺

新的測角臺采用了壓電陶瓷,能順利操作原子級的視場搜索。

物鏡種類*1分辨率
(UHR)型
高分辨率
(HR)型
樣品高傾斜
(HT)型
樣品冷卻
(CR)型
高襯度
(HC)型
分辨率
 點分辨率
 晶格分辨率
0.19 nm
0.1 nm
0.23 nm
0.1 nm
0.25 nm
0.1 nm
0.27 nm
0.14 nm

0.31 nm
0.14 nm

能量分辨率0.8 eV(零損失 FWHM)
加速電壓160 kV,200 kV*2
 最小步長
 能量位移
50 V
3,000 V(以0.2V為步長)
電子槍
 發射體ZrO/W(100) 肖特基式
 亮度≧4×108 A/cm2 ? sr
 真空度×10-8 Pa 級
 探針電流探針直徑為1 nm ,在0.5 nA以上
穩定度
 加速電壓≦1×10-6/min
 物鏡電流≦1×10-6/min
 過濾器電流≦1×10-6/min
物鏡
 焦距1.9 mm2.3 mm2.7 mm2.8 mm3.9 mm
 球差系數0.5 mm1.0 mm1.4 mm2.0 mm3.3 mm
 色差系數1.1 mm1.4 mm1.8 mm2.1 mm3.0 mm
 最小焦距步長1.0 nm1.4 nm1.8 nm2.0 nm5.2 nm
束斑尺寸
 TEM 模式2 ~ 5 nm7 ~30 nm
 EDS 模式0.5 ~ 2.4 nm1.0 ~2.4 nm-4 ~20 nm
 NBD 模式--
 CBD 模式1.0 ~2.4 nm-
電子束衍射
 衍射角(2α)1.5 to 20 mrad or more-
 取出角±10 °-
倍率
 MAG 模式×2,000 ~ 1,500,000×2,000 ~ 1,200,000×1,500 ~ 1,000,000×1,200 ~ 600,000
 LOW MAG 模式×50 to1,500
 SA MAG 模式×10,000 ~ 800,000×8,000 ~ 600,000×8,000 ~500,000×5,000 to 400,000
能量過濾像
有效視場大小
80 mm dia. on final image plane (film) when 10 eV is selected
25 mm dia. on final image plane (film) when 2 eV is selected
相機長度
 選區電子衍射150 ~ 1,500mm200 ~ 2,000 mm250 ~ 2,500 mm300 ~ 3,000 mm
EELS 散射
 狹縫上1.2 μm/eV, 200 kV
 最終像平面50 ~ 300 μm/eV, 200 kV
樣品室
 移動量(XY / Z)2mm/0.2mm2mm/0.4mm2mm/0.4mm2mm/0.4mm2mm/0.4mm
 傾斜角(X / Y)*3±25°/±25°±35°/±30°±42°/±30°±15°/±10°±38°/±30°
 傾斜角(X)*4±25°±80°±80°±80°±80°
EDS*5
 固體角*60.13 sr-0.09 sr
 取出角25°-20°

*1 : 訂貨時請選擇物鏡種類。
*2 : 加速電壓80、100、120 kV時,可使用加速管短路開關(選配件)
*3 : 使用雙傾樣品桿
*4 : 高傾斜樣品臺使用
*5 : EDS為選配件
*6 : 安裝30mm2 檢測器時的數值


關鍵詞:電子顯微鏡
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