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深圳市鴻永精儀科技有限公司
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日本堀場激光粒度儀
SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定。SZ-100的典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
顆粒分析儀采用動態光散射原理（DLS）。根據樣品的物理性質，動態測量范圍為0.3 nm – 8 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發生團聚，溶液保持穩定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地，發現zeta電位為零時（就是說，樣品處于等電點），就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統的靜態光散射模式繪制Debye曲線，從而計算出Mw和A2。
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