菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)咨詢
主要技術(shù)指標(biāo)：（標(biāo)★為重要參數(shù)）
1、測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度
2、測量方式：無損檢測，可自動(dòng)聚焦
3、元素測量范圍: Cl（17）--U（92），多可測量24種元素23層鍍層。
★4、手動(dòng)X/Y平臺(tái),移動(dòng)范圍≥95x150mm,可用工作臺(tái)面≥420x450mm
5、電動(dòng)Z軸，手動(dòng)/自動(dòng)聚焦，可移動(dòng)范圍≥140mm
★6、采用DCM（測量距離補(bǔ)償法）可遠(yuǎn)距離對焦測量腔體樣品，可達(dá)80mm深度
★7、滿足可變高壓30KV,40KV,50KV三種可調(diào)節(jié)，以滿足不同的測試需求。
★8、準(zhǔn)直器：φ0.3的圓形準(zhǔn)直器
9、X射線探測器：比例接收器
10、統(tǒng)計(jì)計(jì)算：數(shù)據(jù)組帶時(shí)間和時(shí)期功能，統(tǒng)計(jì)功能包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、大值、小值等；還可輸入公差范圍，計(jì)算CP和Cpk值，超范圍值時(shí)儀器應(yīng)有自動(dòng)報(bào)警提示功能
11、windows7以上中文操作界面，WinFTM專業(yè)測試軟件，具備連接PC和打印機(jī)的USB借口
★12、測量誤差：鍍層厚度≥0.5um時(shí)，頂層鍍層測量精度≤5%
★13、采用基本參數(shù)法，內(nèi)置12純元素頻譜庫，可實(shí)現(xiàn)無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下測量
★14 MQ值顯示，用于判定測量程式是否與樣品匹配，避免誤操作
★15、標(biāo)準(zhǔn)片：配備12種基準(zhǔn)純元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr）。
16、具備高分辨率CCD攝像頭，放大倍數(shù)40-160倍。
★17、儀器應(yīng)具有環(huán)保部門出具的輻射豁免管理函
18、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)：I5處理器，8G內(nèi)存，500G硬盤，19寸液晶顯示器，彩色噴墨打印機(jī)。
19、工作環(huán)境條件：操作溫度范圍：10℃~40℃；相對濕度：20%～80%；
菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)咨詢
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