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SI-FZ斐索干涉儀

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產品型號SI-FZ

品牌

廠商性質其他

所在地北京市

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更新時間：2024-04-08 10:15:24瀏覽次數：57次

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產品簡介

斐索干涉儀原理為等厚干涉,單色光束在標準平面或標準球面上,部分反射為參考光束;部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回,與參考光束重合,形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學元件面形、光學鏡頭波面像差以及光學材料均勻性等參數的一種精密儀器。

詳細介紹

產品概述

SI-FZ斐索干涉儀

斐索干涉儀原理為等厚干涉，單色光束在標準平面或標準球面上，部分反射為參考光束；部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回，與參考光束重合，形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學元件面形、光學鏡頭波面像差以及光學材料均勻性等參數的一種精密儀器。

SI-FZ斐索干涉儀實驗原理圖：