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寬波段光譜儀

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更新時間:2024-03-07 13:31:11瀏覽次數:132次

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產品簡介

SILVER-Nova寬帶冷卻光譜儀主要特點在于復合光柵技術和TEC制冷,可測波長范圍190-1110nm,復合光柵技術可以在紫外和近紅外光譜范圍內都提供高效率,而半導體制冷能夠提測試的高靈敏度和準確性

詳細介紹

可測波長范圍190-1110nm,寬波段制冷科研級光譜儀

 

寬波段制冷光譜儀StellarNet公司的一大特色產品,型號SILVER-Nova是目前覆蓋波長范圍很寬的光譜儀,可為190-1110nm波長范圍內的許多光譜應用提供科研級準確率的結果。SILVER-Nova寬帶冷卻光譜儀的一個特點是在于復合光柵技術以及半導體制冷,這項技術可以在紫外和近紅外光譜范圍提供高效率。

作為一款全面的光譜儀,對于科研新手或者很少接觸光譜儀的人員來說,StellarNet寬波段制冷TEC光譜儀是很好的選擇,它可以滿足所有科研需求,同時也不需要調試,所有功能齊全且強勁,體積較小易攜帶堅固耐用,適用所有工作環境。


寬波段制冷光譜儀特點

-在190-1100nm范圍內的測量

-分辨率1nm,縫隙為25um

-圓度光譜儀

-弱光條件下靈敏度

-TE冷卻器在長時間曝光時信噪比提高65%

-具有光學透鏡組件的紫外線增強型CCD檢測器

-SILVER-Nova-TEC-X2,2級TEC,可進行零下30度冷卻并降低80%的噪音



寬波段制冷光纖光譜儀的另一些特點是極為靈敏,紫外線增強型CCD探測器帶有集成的TEC冷卻器、增益增強和光學透鏡組件,可提供的靈敏度,在長時間曝光時可將噪聲降低65%以上。高分辨率 SILVER-Nova光學設計提供了1nm分辨率和25um縫隙。另外,金屬外殼堅固耐用,可用于便攜式,過程或實驗室環境。

內置半導體冷卻器的升級功能 –光學外殼包括密封和隔離的探測器外殼,帶有專用的散熱器和氣流設計,以提高穩定性和冷卻性能。其中熱電探測器的冷卻功能提高了探測器在長時間測量中的穩定性,以避免特殊情況下,熱噪聲會使信號失真和超控。

可升級性能,標準的SILVER-Nova包括零下15度的1級半導體冷卻器,以及在環境溫度-30度。升級到2級半導體冷卻器-X2的選件;通過在長時間曝光時將噪音降低80%以上,可以大大提高儀器的信噪比。



可升級或更換的狹縫以及狹縫鎖定技術,修改光譜儀的光具座輸入(新的或舊的)。包括14、25、50、100、200um狹縫的包裝。14um獲得分辨率,200um獲得高靈敏度應用。新的狹縫鎖定技術意味著不需要硬件或螺絲起子就可以調整光譜儀,這是上創建最靈活的光譜儀解決方案。

堅固耐用 –  可拆卸的光譜儀組件和控制電子設備在堅固的金屬外殼內進行保護,適用于便攜式,過程,實驗室和現場應用。

帶有預設校準和光譜儀設置的板載存儲器以及快照存儲器,可從2048像素的高靈敏度CCD提供瞬時光譜圖像。


可升級或更換的狹縫以及狹縫鎖定技術,修改光譜儀的光具座輸入(新的或舊的)。包括14、25、50、100、200um狹縫的包裝。14um獲得分辨率,200um獲得高靈敏度應用。新的狹縫鎖定技術意味著不需要硬件或螺絲起子就可以調整光譜儀,這是上創建最靈活的光譜儀解決方案。

堅固耐用 –  可拆卸的光譜儀組件和控制電子設備在堅固的金屬外殼內進行保護,適用于便攜式,過程,實驗室和現場應用。

帶有預設校準和光譜儀設置的板載存儲器以及快照存儲器,可從2048像素的高靈敏度CCD提供瞬時光譜圖像。



SILVER-Nova寬波段制冷TEC光譜儀技術指標一覽:

動態范圍:

2000:1有6年

尺寸圖

6 x 17 x 15.5厘米

光學分辨率:

1nm縫隙為25um

TEC電源:

隨附5 VDC @ 1A適配器

探測器類型:

2048像素CCD / TE冷卻

接口:

USB-2或無線上網2,RS232 3,SPI 3,4-20mA的3  ,數字I / O 3或以太網3

探測器范圍:

190-1110nm

數據傳輸速度:

30Hz或1000Hz 1

像素大小:

14 x 200微米

檢測器集成:

1ms至8min

極限光柵:

雙重火焰@ 250&1000nm

狹縫尺寸選項:

14,25,50,100,200 um

光柵類型:

全息600線

雜散光:

在435nm下<0.1%; 在200nm下<0.15%

型號

SILVER-Nova

光纖輸入:

SMA905 0.22 NA單纖

信噪比:

1000:1 CCD

操作系統:

Windows和Linux 2,Andriod 2,iOS 2

隨附軟件:

SpectraWiz程序,WinSDK(C,C#,VB,Delphi),可定制的LabVIEW,用于Excel的VBA(CRI和LED報告)



SILVER-Nova寬波段制冷TEC光譜儀標準規格參數一覽

規格

波長范圍(nm)

狹縫200 um
分辨率(nm)

狹縫100 um
分辨率(nm)

狹縫50 um
分辨率(nm)

狹縫25 um
分辨率(nm)

狹縫14 um
分辨率(nm)

SILVER-Nova

190-1110

8

4

2

1

0.75



SILVER-Nova寬波段制冷TEC光譜儀分解圖:

SILVER-Nova寬波段制冷TEC光譜儀實物圖:






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