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深圳維爾克斯光電有限公司
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BeamOn X光斑分析儀，又可稱為BeamOn X光斑測量儀或BeamOn X光斑光束分析儀，是DUMA激光光斑分析儀中基于CMOS成像原理的一款設備，具有良好的成本效益。
高分辨率BeamOn X光斑測量儀，7.4 mm x 5 mm靶面，像素尺寸2.4 um
BeamOn X光斑分析儀，又可稱為BeamOn X光斑測量儀或BeamOn X光斑光束分析儀，是DUMA激光光斑分析儀中基于CMOS成像原理的一款設備，具有良好的成本效益。另外，該設備屬于CMOS光斑分析儀，采用快門技術，帶有1/1.8英寸的檢測區域，配套的軟件界面友好，使用方便，能實時檢測和顯示光束輪廓、光斑橢圓度情況。
BeamOn X光斑測量儀的特點：
-測量光斑尺寸低至30微米
-CMOS成像
-光斑橢圓度
-準確質心定位，測量光束輪廓和能量分布
-高幀率——50 Hz
-光譜范圍——350-1310 nm
BeamOn X光斑分析儀外觀圖片
BeamOn X CMOS光斑分析儀可檢測激光規格：
| 規格 | 參數 |
| 光束類型 | 連續光或脈沖光 |
| 光束尺寸 | ?30 um-?4.5 mm |
| 光譜響應范圍 | 350-1310 nm |
BeamOn X光斑檢測儀產品規格：
| 型號 | BeamOn X |
| 傳感器類型 | CMOS 尺寸1/1.8英寸 |
| 傳感器探測面積（mm） | 7.4（長）x 5（高） |
| 分辨率（像素數量 長 x 高） | 3096 x 2080 |
| 像素尺寸 | 2.4 um x 2.4 um |
| 像素位深 | 10/14 bits |
| 光束寬度分辨率 | 1微米或者更好 |
| 損傷閾值 | 帶衰減片50 W/cm2 |
| 靈敏度 | 激光波長633 nm時，0.5 nW/cm2 激光波長1310 nm時，15000 nW/cm2（15 uW/cm2） |
| 飽和度 | 不帶衰減片1 W/cm2 |
| 產品尺寸（長 x 寬 x 高）單位mm | ?63 mm x 51 mm寬 |
| 重量（典型） | 帶光纜300 g |
| 機械接口 | Post mounting：8-32UNC，6 mm寬 |
| 運行溫度 | 0 °-35 ℃ |
| 定位分辨率 | 1 um |
| 光束寬度精確度 | ±2% |
| 動態范圍 | 60 dB |
| 曝光速度（可調節） | 32 us-2 s |
| 幀率 | 50 fps - 高達450 fps @fast mode（8 bit + ROI） |
| 功率測試 | 在選定的點上進行用戶預校準 |
| 去除背景噪聲 | 自動 |
| Trigger | 內部軟件 |
| 功率需求 | ~2 W（通過USB3.0接口） |
| （計算機）硬件要求 | CPU i5 1.6 GHz，4 GB內存 分辨率1366 x 766 |
| 接口 | USB3.0，Windows 7/8/10（32&64 bit） |
BeamOn X光斑測量儀能測量光束直徑30 um - 4.5 mm的連續光或脈沖光，定位分辨率高達1 um。光束經由CMOS光斑分析儀系統成像后，軟件界面將顯示光束輪廓和能量分布，同時還提供質心定位、光斑橢圓度、光束尺寸數值。質心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析儀檢測過程中得出，能量分布通過顏色變化情況和能量曲線來辨別。在一定的能量強度的范圍內，激光光斑分析儀系統還能測量出光斑橢圓度、長軸、短軸數值。為了保障BeamOn X光斑光束分析儀不因激光功率過高而導致設備故障，激光的功率密度應遠低于損傷閾值。
訂購信息：
Model BEAMON-X-E-FW：350-1310 nm，帶衰減片轉輪，轉輪內含3片衰減片（NG4，NG9，NG10）
Model BEAMON-X-E：350-1310 nm，不帶衰減片轉輪
一套完整的激光光斑分析儀系統包括一臺BeamOn X光斑分析儀（含連接線纜）、一根支柱、系統軟件（存于CD/U盤）、一個小提箱。
Model BEAMON-X-E-FW光斑檢測儀尺寸圖
Model BEAMON-X-E光斑檢測儀尺寸圖
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