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束倫（上海）技術服務有限公司
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性能指標X射線光源Cu靶
X射線光源 Cu靶，陶瓷X光管，電壓≤40kV，電流≤40mA 樣品臺 樣品臺水平固定，適合測試松散固體、塊狀固體、薄膜等 測角儀 精度高，角度重現性達±0.0001o，最小步長為0.0001o，可θ，2θ單獨驅動，工作模式為θ/θ模式，步進馬達 + 光學編碼器確保測角儀快速而準確定位 探測器 新型Lynxeye-XE半導體探測器，具有靈敏度高，信號強高的特點
樣品的物相分析（定性分析） 晶粒尺寸測定、分析納米粒度大小及粒徑分布 物相定量分析 薄膜物相鑒定，薄膜高溫分析 測量纖維或高分子樣品的物相、取向度等 織構分析 應力分析
粉末樣品要求：干燥、在空氣中穩定，粒度均勻，粒徑1-50μm（大尺寸塊體需研磨后過250目篩），粉末樣品量約需1g。 塊狀樣品要求：測試面清潔平整，也可是板狀、片狀，帶襯底材料的薄膜或帶基材的鍍層等原始形狀，厚度≤5mm，直徑≤2cm。 特殊樣品：極少量的粉末、非晶條帶樣品等。微量粉末樣品需要顆粒均勻細小，且物質性質穩定，對Si無腐蝕性。條帶需要平整光滑且不能太厚。 告知測試的起始角度，2θ角掃描范圍須在5°～120°之間 若樣品中含有Fe、Co、Ni等熒光物質，請告知 送樣人需盡量提供樣品中所含的元素種類 易變質樣品需提前與儀器操作人員聯系，預約測試時間 劇毒樣品需特別注明 請注明樣品保存條件，如常規、冷凍、干燥、冷藏、避光等。
D8 DaVinci型X射線粉末衍射儀樣品臺水平固定，適合測試松散固體、塊狀固體、薄膜樣品等。配置有高、低溫（-180~450度）附件、薄膜附件、PLynxeye探測器、強大的智能化多用途軟件平臺。主要應用于混合物相的定性分析；樣品的對照分析；晶體物相的定量分析；晶體材料微結構的表征（晶胞參數的精密測定，晶粒大小，微應力等）；薄膜材料的研究；掠入射小角X衍射；結晶度分析等。 該儀器已對交大材料學院、化工學院、生命學院、藥學院、環境學院等各學院及多家校外企事業單位提供了測試服務。該儀器在材料的物相分析上為校內外客戶提供了很好的服務并取得了豐碩的成果。每年發表包括該儀器為表征手段的文章百余篇。
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