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更新時(shí)間:2023-03-16 10:27:59瀏覽次數(shù):129次
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LS225涂層測(cè)厚儀+F500探頭 LS225涂層測(cè)厚儀主機(jī)搭配F500探頭,用于鐵磁性金屬基體上的涂鍍層厚度檢測(cè)。測(cè)量很薄的鍍層厚度時(shí)對(duì),用戶還可選配專用的手壓測(cè)試機(jī)架。 ......
LS225涂層測(cè)厚儀主機(jī)搭配F500探頭,用于鐵磁性金屬基體上的涂鍍層厚度檢測(cè)。測(cè)量很薄的鍍層厚度時(shí)對(duì),用戶還可選配專用的手壓測(cè)試機(jī)架。
LS225涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
LS225涂層測(cè)厚儀主機(jī)搭配F500探頭,用于鐵磁性金屬基體上的涂鍍層厚度檢測(cè)。為了滿足在測(cè)量很薄的鍍層厚度時(shí)對(duì)精度的要求,用戶還可選配專用的手壓測(cè)試機(jī)架。
具有很高的測(cè)量精度和重復(fù)性,可用于測(cè)量10μm以下的超薄涂鍍層厚度測(cè)試。采用探針式探頭,小測(cè)量區(qū)域直徑小至7毫米,特別適用于測(cè)試小尺寸材料。
搭配專用的手壓測(cè)試機(jī)架使用,在測(cè)量超薄涂鍍層或異形小尺寸材料時(shí),數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)穩(wěn)定。
LS225+F500涂鍍層測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)測(cè)量原理,常用于磁性金屬表面的鍍銅,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻以及涂料、清漆、搪瓷等非磁性涂鍍層厚度檢測(cè)。
被廣泛應(yīng)用于金屬加工業(yè)、五金件等行業(yè)。
LS225涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn):
. 探針式測(cè)頭設(shè)計(jì)
采用超小探針式測(cè)頭設(shè)計(jì),特別適合于螺釘、螺栓等小工件上的涂鍍層測(cè)量。
. 可測(cè)超薄涂鍍層
探頭采用數(shù)字震蕩技術(shù),高速ADC采集,確保儀器具有很高穩(wěn)定性,可測(cè)量超薄涂鍍層。
. 支持多點(diǎn)校準(zhǔn),數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)
支持調(diào)零和多點(diǎn)校準(zhǔn),配備了7張不同厚度大小的標(biāo)準(zhǔn)片,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片或?qū)嶋H工件可修正曲線,使測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
. 智能統(tǒng)計(jì)功能
具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,多可存儲(chǔ)9個(gè)測(cè)量值,并能自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所測(cè)數(shù)據(jù)的zui大、zui小、平均和方差值。
. 高硬度耐磨測(cè)頭
采用高硬度的測(cè)頭設(shè)計(jì),可以保證儀器長(zhǎng)期有效的使用。
. 手壓機(jī)架測(cè)試更精準(zhǔn)
提供專用的手壓測(cè)試機(jī)架供用戶選購(gòu),可使測(cè)量更加方便,還可消除人為因素帶來(lái)的測(cè)量誤差,重復(fù)性可達(dá)0.1μm。
. 多種選項(xiàng)可設(shè)置
支持中英文和兩種單位切換(μm和mil),可設(shè)置1-9分鐘內(nèi)無(wú)操作自動(dòng)關(guān)機(jī)。
產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量--磁性法
DIN EN ISO 2808涂料和清漆漆膜厚度的測(cè)定
JJG-818-2005磁性、電渦流式覆蓋厚度測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程
LS225涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
參數(shù)名 | 參數(shù)值 |
顯示 | 240×160點(diǎn)陣LCD |
供電方式 | 4節(jié)1.5VAAA堿性電池 |
工作溫度范圍 | 0℃-50℃ |
存儲(chǔ)溫度范圍 | -20℃-60℃ |
主機(jī)尺寸 | 148*76*26mm |
重量(含電池) | 194g |
參數(shù)名 | 參數(shù)值 |
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) |
基體材料 | 鐵磁性金屬 |
測(cè)量范圍 | 0.0-500μm |
分辨率 | 0.1μm:(0μm-99.9μm) |
重復(fù)性 | ≤±(0.8%H+0.1μm)手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試,H為標(biāo)準(zhǔn)值 |
測(cè)量精度 | ±(2%H+0.3μm)五點(diǎn)校準(zhǔn),H為標(biāo)準(zhǔn)值 |
單位 | μm/mil |
測(cè)量間隔 | 1.5s(單次模式) |
最小測(cè)量區(qū)域 | ?=7mm |
最小曲率半徑 | 凸面1.5mm,凹面10mm |
最小基體厚度 | 0.1mm |
用戶校準(zhǔn) | 支持零點(diǎn)校準(zhǔn),1點(diǎn)到5點(diǎn)校準(zhǔn) |
探頭尺寸 | 長(zhǎng)110mm×直徑15mm(不包括連線) |
探頭重量 | 81g |
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