HI-Q射頻測試測量系統

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更新時間：2024-06-03 08:41:03瀏覽次數：124次

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長春海洋光電有限公司

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產品簡介

美國OEwaves公司的Hi-Q射頻測試測量系統利用微波光子學技術自動測量超低相位微波信號源

詳細介紹

美國OEwaves公司的Hi-Q射頻測試測量系統利用微波光子學技術自動測量超低相位微波信號源。Hi-Q射頻測試測量系統測試速度快、自動化，且在的頻段的任何工作頻率產生一個射頻或微波信號源的相位噪聲譜密度。

該射頻測試測量系統在寬頻段測量上有其性，無需額外的低噪聲參考源或下變頻器，這與常規的零差法所要求的不同。該系統操作簡單、方便、快速、精度高。

通過與美國國家標準與技術研究院測量系統比較，下圖給出了經過校準的該測試測量系統的互相關性能。


	特征：

▪ 超低相位/頻率噪聲測量

▪ 快速實時測量

▪ 全自動化

▪ 互相關零差法能力

▪ 不需要低噪聲噪聲參考信號源

▪ 用戶友好界面

▪ 簡單的筆記本電腦操作

▪ 6Ux 19英寸機架系統

▪ 可定制的配置，

▪ 升級和選項