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原子力顯微鏡（教學型）FM-Nanoview T-AFM

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更新時間：2023-03-06 14:40:04瀏覽次數：256次

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產品簡介

原子力顯微鏡（教學型）FM-Nanoview T-AFM

詳細介紹

◆ 小型化及可拆卸化設計，非常便于攜帶及教學

◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強
◆ 精密探針定位裝置，激光光斑對準調節非常簡便
◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品
◆ 自動光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域
◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好
◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%

技術參數

工作模式	輕敲模式、RMS-Z曲線	樣品臺行程	15×15mm
選配模式	接觸、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力	光學觀察	4X光學物鏡/2.5um分辨率
選配力曲線	F-Z力曲線	掃描速率	0.6Hz~30Hz
XY掃描范圍	20×20um，可選50×50um，100×100um	掃描角度	0~360°
Z掃描范圍	2.5um，可選5um，10um	運行環境	Windows XP/7/8/10操作系統
掃描分辨率	橫向0.2nm，縱向0.05nm	通信接口	USB2.0/3.0
樣品尺寸	Φ≤90mm，H≤20mm	減震設計	彈簧懸掛