我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。
德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術(shù)參數(shù)：
1、工作臺(tái)：
設(shè)計(jì)：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程X/Y平臺(tái)
移動(dòng)范圍：255x 235mm
X/Y平臺(tái)移動(dòng)速度：≤80 mm/s
X/Y平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度：≤0.01 mm，單向
可用樣品放置區(qū)域：300 x 350mm
Z軸：可編程運(yùn)行
Z軸移動(dòng)范圍：140mm
樣品:重量5kg，降低精度可達(dá)20kg
樣品:高度140mm
2、環(huán)境要求：
使用時(shí)溫度：10℃- 40℃
存儲(chǔ)或運(yùn)輸溫度：0℃ - 50℃
空氣相對(duì)濕度：≤95%,無結(jié)露
3、計(jì)算單元：
計(jì)算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件：標(biāo)準(zhǔn):WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER
4、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
CE合格標(biāo)準(zhǔn)：EN 61010
X射線標(biāo)準(zhǔn)：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準(zhǔn)：型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。
5、通用規(guī)格：
設(shè)計(jì)用途：能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍：從元素氯(17)到鈾(92)，配有可選的WinFTM BASIC軟件時(shí)，可同時(shí)測定24種元素。
形式設(shè)計(jì)：臺(tái)式儀器，測量門向上開啟
測量方向：從上到下
6、X射線探測：
X射線接收器：比例接收器
測量距離：0 ~ 80mm，使用專有保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法
7、視頻系統(tǒng)：
視頻系統(tǒng)：
CCD彩色攝像頭，沿著初級(jí)×射線光束方向觀察測量位置對(duì)被測工件進(jìn)行監(jiān)控，可自動(dòng)對(duì)焦或手動(dòng)聚焦
十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點(diǎn)用于定位樣品
放大倍數(shù)：40x-160x
8、電氣參數(shù)：
電源要求：交流220v 50Hz
功率：120W(不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級(jí)：IP40
9、尺寸規(guī)格：
外部尺寸：寬×深×高[mm]:570 x760 x 650
內(nèi)部測量室尺寸：寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146
重量：120kg
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