JSM-IT510 InTouchScope™掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具，對于需要品控的制造工廠也是不可
或缺的。在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作
效率。 JSM-IT510新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”，
從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
簡單 SEM
只需選擇目標視野
“簡單 SEM”支持日常工作
樣品：電子元件
加速電壓：15 kV，放大倍數：×50（上部） ×1,000（下部），信號： BE
