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上海百賀儀器科技有限公司
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C主要用于產品的宏觀檢驗。
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的介紹
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C主要用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋(擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋)、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的特點
1、圖像質量:提供反差、高襯度、分辨率的三維圖像
2、光學系統:ICCS光學系統
3、顯微觀察技術: 防眩光技術
4、設計理念: 人機工程學原理, 模塊化設計和開放式結構,保留了所有選擇項,便于日后的升級和功能增強。
5、使用壽命:60年
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C技術參數
1、總放大倍率:1.95X-250X
2、工作距離為286mm
3、基本物體視場直徑為35mm
4 冷光源:8V20W(12V75W, 15V150W 24V250W)
5、可擴展性:可配圖像分析系統(數碼相機、攝像頭、圖像分析軟件)
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