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蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C

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產品型號Stemi2000-C

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更新時間：2023-05-17 18:24:34瀏覽次數：132次

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產品簡介

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C主要用于產品的宏觀檢驗。

詳細介紹

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的介紹
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C主要用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的特點
1、圖像質量：提供反差、高襯度、分辨率的三維圖像
2、光學系統：ICCS光學系統
3、顯微觀察技術：防眩光技術
4、設計理念：人機工程學原理, 模塊化設計和開放式結構，保留了所有選擇項，便于日后的升級和功能增強。
5、使用壽命：60年

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C技術參數
1、總放大倍率：1.95X-250X
2、工作距離為286mm
3、基本物體視場直徑為35mm
4 冷光源：8V20W（12V75W, 15V150W 24V250W）
5、可擴展性：可配圖像分析系統(數碼相機、攝像頭、圖像分析軟件)