The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.
詳細介紹
EQS 是差式泵式二次離子質譜(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用的SIMS 探針,便于連結到現有的UHV表面科學研究反應室。