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上海納騰儀器有限公司
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NX10 高精度原子力顯微鏡
Park NX10 為您帶來高納米級分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創新研究工作的同時提供高精度的數據。
在 SmartScan Auto 的智能模式下，系統自動執行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質量和掃描速度。這是通過Park的技術才得以實現的。它不僅可以為您節省時間和金錢，還可以給您帶來優質的研究結果。
Park NX10 為您帶來高納米級分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。它是真正非接觸式原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時，還能良好地保護您的樣品不受損壞。可彎曲的獨立 XY 掃描儀和Z掃描儀可帶來的精確度和分辨率。
Park 原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式，因此您可以準確有效地收集各種數據類型。從使用世界上的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性，到*的磁力顯微鏡， Park 在原子力顯微鏡領域為您提供創新、精確的模式.
的產品特點
1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3"點擊即可實現成像
2）Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式，更*的力學形貌成像及各種電學測試
3）強大的內置集成軟件系統，自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式
基本技術特點
a)掃描范圍是 50μm x 50μm的 2D 掃描器，驅動 XY 軸樣品臺
b)高速Z軸掃描器，掃描范圍 15μm
c)低噪聲 XYZ 位置傳感器（低噪聲XY閉環掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的 0.15% 以下）
d)自動步進掃描，滑動嵌入 SLD 鏡頭的自主固定方式，
e)垂直調節驅動 Z 平臺和聚焦平臺
選項/模式
標準成像 化學性能 介電/壓電性能 ? 實際非接觸式 ? 接觸式 ? 側向摩擦力顯微技術（LFM） ? 相位模式，輕敲模式 ? Pinpoint成像 ? 功能化探針的化學力顯微鏡 ? 電化學顯微鏡(EC-STM和EC-AFM) ? (EFM)靜電力顯微鏡 ? 動態接觸式電子顯微鏡（EFM-DC） ? （PFM）壓電力顯微鏡 ? 高電壓PFM 力測量 磁性能 熱性能 ? 力-距離（F-D）光譜 ? 力譜成像 ? 磁力顯微鏡 ? 可調AFM ? 掃描熱顯微鏡（SThM） 電性能 機械性能 ? Pinpoint 導電AFM（CP-AFM） ? I-V譜線 ? 掃描開爾文探針顯微鏡（KPFM） ? QuickStep掃描電容顯微鏡（SCM） ? 掃描電阻顯微鏡（SSRM） ? 掃描隧道顯微鏡（STM） ? 掃描隧道光譜（STS） ? 光電流測繪（PCM） ? SICMcurrent-distance（I/d）Spectroscopy ? Pinpoint模式 ? 力調制顯微鏡（FMM） ? 壓痕，納米刻蝕 ? 高壓納米刻蝕 ? 納米操縱
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