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Leica DCM8德國徠卡3D顯微鏡

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產品型號Leica DCM8

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更新時間：2024-03-31 09:23:44瀏覽次數：203次

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產品簡介

德國徠卡3D顯微鏡-共聚焦顯微鏡 Leica DCM8相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。

詳細介紹

德國徠卡3D顯微鏡 Leica DCM8 共聚焦顯微鏡

Leica DCM8德國徠卡3D顯微鏡采用了新的非接觸式三維光學表面測量技術。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的產品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8 3D顯微鏡可提供明視場模式和暗視場模式。

德國徠卡共聚焦顯微鏡 Leica DCM8 3D顯微鏡

德國徠卡3D顯微鏡DCM8采用了新的非接觸式三維光學表面測量技術。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現超快速的分析操作。

具有佳的精確度和可重復性

您所查看的產品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌？使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的產品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。

Leica DCM8采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術

快速捕捉表面數據

Leica DCM8 3D顯微鏡采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術。由于傳感器頭部未使用運動部件，因此設備能夠實現快速和可重現的捕捉數據。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區(qū)域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。

能夠對Leica DCM8進行配置以便適用于您的樣本

很容易匹配您的樣本

能夠對Leica DCM8 3D顯微鏡進行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質物鏡。對于大尺寸樣本來說，從我們的可調整鏡筒和電動載物臺系列中進行選擇。除此之外系統(tǒng)還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。

們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8設備

能夠有效地對結構進行分析

我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8 3D顯微鏡設備。配方方案，多樣本和統(tǒng)計分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執(zhí)行更為復雜的三維測量任務？那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統(tǒng)的測量功能。

Leica DCM8