X射線衍射儀 SmartLab系列智能的詳細資料：
一、儀器介紹
智能X射線衍射儀SmartLab系列，是當今世界性能的多功能的X射線衍射儀，它采用了理學*的CBO交叉光學系統、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance，一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。
二、技術參數
1、X射線發生器功率為3KW、新型9KW轉靶
2、測角儀為水平測角儀
3、測角儀zui小步進為1/10000度，zui高精度測角儀（雙光學編碼、直接軸上定位）（理學）
4、測角儀配程序式可變狹縫
5、自動識別所有光學組件、樣品臺（理學）
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學）
7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜測試組件
9、微區測試組件、CBO-F微區光學組件
10、In-Plane測試組件（理學）
11、入射端Ka1光學組件
12、高速探測器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環的探測器，可以接收直射X射線)
14、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance（）
三、主要特點
智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品
主要的應用有
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區樣品的分析
