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Titan 系列透射電子顯微鏡

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更新時間：2023-02-10 08:55:14瀏覽次數：321次

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產品簡介

詳細介紹

自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優異的產品設計以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。
FEI 的 Titan S/TEM 平臺一直在發展演變，現如今，Titan TEM 系列涵蓋 Titan™ Themis、Titan Krios™ 和 Titan™ ETEM 產品，已成為功能*強大、商用化程度**的 S/TEM 解決方案。這一切都來自革命性的創新，包括更寬的高張力范圍、含有校準器的平臺以及更大的磁極片間距（以便在更大的空間內開展更多操作）。Titan 的研發始終以穩定性和靈活性為基準，因此才能具有的性能，持續支持研究人員在原子級別開展研究和探索。

性能特點

Titan 的材料科學應用包括：

化學成分和價鍵狀態研究
三維化學成分成像
S/TEM 斷層掃描
磁場和電場測量
動力學研究
原位氣固相互作用實驗
Titan 的生命科學應用

對生物樣本的二維和三維表征研究來說，Titan Krios 是功能*強大、靈活性**的高分辨率電子顯微鏡。**的熱穩定性和機械穩定性保證了的光學性能。Titan Krios 讓數天的無人值守作業成為可能，而且與自動化樣本裝載裝置結合使用時，它還能實現的樣本吞吐量。提供多種檢測器和軟件方案供您選擇，以便根據以下任意應用的需求來配置 Titan Krios：

冷凍電子顯微術
二維電子晶體照像術
單顆粒分析
雙軸細胞斷層掃描

應用領域

掃描電鏡**地應用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機械加工）和非金屬材料（化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

關鍵詞：透射電子顯微鏡電子顯微鏡化學材料