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成貫儀器(上海)有限公司
奧林巴斯數碼顯微鏡DSX1000
速度、精度、解析
工作流程的巨大革新,數碼顯微鏡DSX1000面世
“保證準確度和重復性的快速分析"
從宏觀到微觀多種應對方案有保證的準確度和精確度,確保可信的觀察結果
提供多功能、大景深、高分辨率,長工作距離的多種類物鏡,支持更多的分析檢驗工作
編碼型自由角度觀察系統
一鍵式多種觀察方法切換
只需按下一個按鈕即可快速更改鏡頭和觀察方法
可在任何放大倍率下使用所有觀察方法
有保證的準確度和精確度,確保可信的觀察結果
采用遠心光學系統保證精確測量
在所有放大倍率下均可保證準確性和重復性
宏觀與微觀兼顧
傾斜觀察(±90°)
工作距離66 mm
可旋轉式電動XY載物臺(±90°)
寬放大倍率范圍:20X 至 7000X
顯微鏡的放大倍率范圍為20X至7000X,讓您既可以在低放大倍率下進行高質量的整體觀察,又可以快速放大以開展微米級的詳細分析。
其大景深和長工作距離方便您檢驗較大樣品,同時,您還可通過自由角度觀察系統從多個方向進行樣品成像。
解決您各種各樣問題的檢測工具
僅需一套易用的系統即可完成檢驗。
僅需一套系統即可同時應對粗檢和微米級分析
在高放大倍率下生成高分辨率圖像將碰撞樣品的幾率降至過去,要完成某項檢驗,需要同時用到高倍顯微鏡和低倍顯微鏡。
在顯微鏡之間轉移樣品不僅耗費時間,并且需要許多設置調整。
· 更好的物鏡帶來更優異的分辨率
· 工作距離長
· 大景深
· 鏡頭更換快速簡單
采用表現優異的光學元件,在高放大倍率下生成高質量圖像。
在高放大倍率下生成高分辨率圖像
當檢驗不規則的樣品時,必須使鏡頭和樣品間保持安全距離,從而避免損壞樣品。若要看到細節,您需要增加放大倍率,但是這樣通常會導致分辨率變差。
傳統數碼顯微鏡 DSX1000
觀察不規則的樣品而避免撞到它們。
將碰撞樣品的幾率降至
如果您的樣品和鏡頭間的距離太小,在進行分析時,物鏡可能會碰撞樣品,從而造成損壞。
為您的分析選擇的鏡頭
我們的全套物鏡系列共包含17種物鏡,包括超長工作距離和高數值孔徑的豐富選擇,可在各種放大倍率下獲得豐富的圖像。
倍率放大一覽:20X至7000X放大倍率范圍
只需按一下按鈕,就可以無縫切換放大倍率,進行從宏觀分析到細節的觀察。
將碰撞樣品的幾率降至
DSX1000系統提供大景深和長工作距離物鏡的多種選擇,所以您可以觀察不規則的樣品,造成損壞的幾率較少。
具有高分辨率和長工作距離的物鏡
物鏡兼具高分辨率和長工作距離,使您能夠分析大型、不規則的樣品,如汽車和機械零部件,而這些樣品在過去僅使用一臺光學顯微鏡很難滿足檢測要求。
XLOB系列
0.95數值孔徑的物鏡獲得出色的分辨率
DSX1000數碼顯微鏡選用了優異的光學鏡頭系列。消色差物鏡使您能夠觀察到樣品中的極細微處。
UIS2系列
從多角度觀察您的樣品
傾斜觀察(±90°)
在顯微鏡傾斜時或載物臺旋轉時,同心光學設計能夠始終保持良好的視野,使您可以從多角度觀察樣品。這種靈活性將您從單一的正上方觀察樣品的痛苦中解放出來,幫助您發現難以看見的缺陷。
旋轉觀察(±90°)
載物臺可旋轉90度,使您能夠靈活選擇如何觀察樣品。
始終了解您的角度
系統自動為每張圖像記錄傾斜和角度旋轉信息。
旋轉式載物臺的移動方向
傾斜角度傳感器
傾斜角度:45°
宏觀地圖功能
您不會在分析過程中迷失。即使在倍率放大后,系統也會在宏觀地圖中顯示當前視野所在位置。
易于使用的操控手柄
XY軸載物臺和Z軸驅動采用操控手柄控制
通過調整Z軸精細調節旋鈕,快速移動變焦頭部
一鍵式多種觀察方法切換
DSX1000顯微鏡使您能夠更快、更輕松地完成檢驗工作流程。切換觀察方法非常簡單,只需要使用按鈕就能在六種觀察方法間快速切換。
滑動式鼻輪
六種觀察方法
操控手柄
快速切換節省時間
傳統系統可能只提供一種或兩種觀察方法,您能在樣品中得到的信息就很有限。
DSX1000顯微鏡提供多種觀察方法,以便您從中選擇的觀察方法
快速、輕松地改變放大倍率
對于某些數碼顯微鏡,您需要更換物鏡來調整放大倍率。這一過程可能較慢,可能需要您每次拆掉照相機電纜,還必須重新啟動軟件。在此過程中,您很有可能會丟失感興趣區域,從而需要重新花時間再找到微觀感興趣區域。
DSX1000使您能夠輕松、快速地在宏觀到微觀的范圍內改變放大倍率,同時盡量減少丟失目標的幾率。
使用滑動式鼻輪快速改變放大倍率
您可以同時在頭部安裝兩個物鏡,通過滑動鏡頭快速改變放大倍率
滑動鏡頭以快速更改放大倍率
快速切換鏡頭附件
您可以快速切換物鏡,以找到檢驗所需的放大倍率。更換鏡頭后,放大倍率和視野信息會自動更新。
快速電動光學變焦
轉動操控手柄旋鈕可進行光學變焦。光學變焦頭部僅使用一個物鏡即可涵蓋較廣的放大倍率范圍。全電動的光學變焦排除了以往手動操作帶來的困擾。
旋鈕
單個鏡頭支持10X變焦比。
只需按下一個按鈕即可改變觀察和照明方式
對于某些顯微鏡,照明方式取決于物鏡的選擇,更換起來會十分耗時。DSX1000系統使這一過程變得快速、簡單且容易——只需按下一個按鈕。
使用旋鈕即可調整光照方向
*根據觀察方法相應地調整照明。
易于使用的操控手柄
多功能操控手柄幫助您快速完成工作。例如,只需點擊按鈕就可以輕松捕獲2D或3D圖像,或者移動XYZ載物臺。
內置觀察方法
在明場(BF)、偏斜(OBQ)、暗場(DF)、MIX(BF+DF)、簡易偏光(PO)、微分干涉(DIC)六種觀察方式間輕松切換,并同時實現對比度增強效果,從而使您幾乎能夠應對任何顯微鏡檢測任務。
MIX(BF+DF)
光照來自鏡頭內部周圍的環形照明
通過將暗場(DF)的探測能力與明場(BF)的可見性相結合,輕松檢測出傳統顯微鏡難以發現的劃傷和缺陷。
BF DF MIX
BF(明場)
適合于平整樣品
觀察有刮傷的鏡面時,正反射的表面上有刮傷的位置顯得暗。比較適合于觀察平整樣品的細微結構。
PO(偏光)
為偏光樣品而設計
通過內置兩個正交偏光濾鏡的方式,讓您能夠根據樣品的偏光特性,看到鮮明的對比和顏色。
OBQ(偏斜照明)
增強樣品表面的不規則度
此方法只從一個方向照射光線,突顯了表面的不規則度。此方法適用于不規則或波紋狀表面的樣品和切削紋。
DIC(微分干涉)
使納米級的不規則表面、異物、刮傷和其他缺陷變得可見
此方法使您能夠看見納米級的表面不規則形狀。非常適用于晶圓、薄膜、LCD ACF和玻璃表面的檢驗。
DF(暗場)
適用于檢驗刮傷和類似缺陷
散射光或反射光傾斜照射于樣品表面,突出顯示灰塵、刮傷和其他物體。灰塵和刮傷在視場中顯得明亮
對比度增強
增強樣品的輪廓形貌
盡可能減少眩光
適配器使光線漫反射,在觀察圓柱形金屬表面等樣品時,能夠幫助消除眩光和暗坡。
不帶適配 帶適配器
消除反射
當觀察薄膜表面或者透過透明介質(如玻璃)觀察物體時,部分表面會看起來非常亮。使用適配器和偏光板可以消除眩光。
不帶適配器 帶適配器
高速捕獲高分辨率圖像
顯微鏡的*算法使您只需按下按鈕就能快速獲取3D圖像。
自動拼接的全景圖像
在全景視圖中捕獲大范圍的3D圖像。將一系列清晰的圖片拼接在一起,讓您超出顯微鏡視野之外觀察您的樣品。
通過拼接圖片獲得大視野圖像 全景圖像
有保證的*準確度和精確度,確保可信的觀察結果
顯微鏡采用遠心光學系統,使您能夠進行非常精確的測量,同時通過有保證的準確度和精確度,確保您獲得可信的觀察結果。
*為了保證XY準確度,必須由奧林巴斯的服務技術人員負責校準工作
有保證的測量精確度
可信的測量結果
許多普通數碼顯微鏡和光學顯微鏡不保證精確度。
傳統手動測量 DSX1000測量準確
現場校準
即使您的顯微鏡的測量精確度在工廠發貨時是有保證的,安裝后,那些結果也可能發生改變。
通常沒有校準證書 DSX1000隨附校準證書
高精確度測量
當使用傳統顯微鏡觀察有一定高度的樣品,您可能會為會聚效應而苦惱,因為此時,物體尺寸可能會根據焦點不同而看起來不同。
由于該效應的存在,很難獲得準確的測量結果。DSX1000系統的遠心光學系統消除了這種效應,獲得了更好的測量準確度。當您需要高精度測量時,DSX1000是您的選擇。
傳統數碼顯微鏡(非遠心光學系統)
什么是遠心光學系統?
遠心鏡頭在視野中心和邊緣處的亮度相同。使用遠心鏡頭時,即使因調節焦點而垂直移動樣品,圖像尺寸(放大倍率)也不會變化。此光學系統使您能夠捕獲樣品上表面的整體圖像,提升了測量精確度。
非遠心光學系統 遠心光學系統
可靠的準確度和重復性
所有放大倍率均提供有保證的測量準確度和重復性,確保您獲得可靠的測量結果。
在您的工作環境下提供可靠的測量性能
當您購買DSX1000系統時,一名技術員會在您的現場進行校準,從而保證其與出廠發貨時的精確度水平相當。
各種證書
確保精確測量
為了進一步降低測量精確度的波動,需要對物鏡和放大倍率進行校準。通常,此過程較為耗時,但是可以通過自動校準功能進行快速、輕松的校準設置。
校準標樣
強大的功能提供的價值
以極快的60fps幀速率實時、流暢地成像
DSX1000采用與數碼單反相機中相同的技術,提供60幀/秒(fps)幀速率的流暢成像。即使您移動樣品,您的圖像依然鮮明生動。
高分辨率成像,實現逼真的色彩還原
使用相機內置的3CMOS模式,您可以獲得色彩還原出色的高分辨率圖像,且占存儲容量很小。
無光斑、鮮明生動的低倍放大圖像
顯微鏡采用*光學技術,消除了低倍放大常見的鏡頭光斑,可生成鮮明生動的圖像。
用6種觀察方法預覽圖像
僅需輕點按鈕即可瞬時顯示用6種不同觀察方法捕獲的樣品圖像。為您的樣品選擇的圖像,然后系統會根據所選觀察方法自動進行觀察條件設置。
檢索觀察條件
當您采集一張圖像時,其中就包含了采集時的條件和設置信息。您可以通過選擇圖像再調用這些條件,方便您以相同條件和設置進行觀察。
盡可能減少光暈
HDR功能將在不同曝光度下采集的多張圖像結合起來,從而顯示明暗部位中細微的結構,同時消除了樣品反射引起的光暈和眩光。
測量種類廣泛
系統不僅支持線寬、表面積、角度和直徑等2D特性的測量,還支持高度、體積、橫截面積和其他3D特性的測量。
表面粗糙度測量
使用Ra和Rz參數,對線和面粗糙度進行量化測量,使您能夠輕松觀察圖像的表面情況。
強大的圖像分析軟件
OLYMPUS Stream圖像分析軟件為粒度測量等專業化分析提供了便利。OLS5000-BWS軟件也可以使您的檢查從數據采集到生成報告更高效。
單擊鼠標即可生成報告,靈活高效
立即按照您所需的格式生成結果報告。此工具除了支持特定的DSX格式,還支持Excel、PDF和RTF格式。您也可以根據您期望的格式定制您的報告。
汽車
觀察車體油漆表面的異物從而識別污染源
噴漆的車體
解決方案
以相同的放大倍率看清物體細節。
當使用傳統物鏡(1700X)時,樣品圖像模糊 即使周邊有氣泡也能清楚成像以檢測異物(DSX1000、1700X)
觀察散熱器片的橫截面從而發現焊接缺陷
散熱器片橫截面
解決方案
對于某些系統,若要選出的樣品觀察方法,可能會十分耗時。對于DSX1000系統,只須按一下按鈕即可選擇所需的觀察方法。
當使用傳統物鏡(300X)時,樣品圖像模糊 DSX1000偏光觀察(300X),清楚呈現焊縫的剝落
金屬
觀察金屬斷口表面從而分析損壞原因
金屬斷口表面
解決方案
在高放大倍率下,使用圖像拼接可以實現大面積觀察,但是對于一些傳統系統而言,圖像拼接的邊界難以抹去。DSX1000改善了拼接算法,提供無明顯邊界的清晰圖像。
A2×2拼接圖像(1000X)
在無眩光條件下觀察較大物體
鉆頭
解決方案
當對較大物體進行三維觀察時,不易獲得均勻的亮度,因此很難看到樣品的整體圖像。使用DSX1000觀察較大物體時,可獲得清晰、無眩光的整體圖像。
使用傳統物鏡(24X)時,由于亮度不均勻,難以觀察到損壞部位 DSX1000采用了平面照明,因此易于觀察到受損部位(24X)
電子元件
測量集成電路(IC)的碎片從而確定失效原因
切割前的IC晶圓
解決方案
不是任何數碼顯微鏡都能在所有放大倍率下保證測量的準確度和重復性。DSX1000提供有保證的測量準確度和重復性,確保您獲得可信的測量結果。
微分干涉(DIC)圖像(2500X),碎片邊緣清晰可見
多層電容表面的缺陷檢驗和外型尺寸測量
芯片基板
解決方案
由于電容和電介質之間存在反射,對傳統數碼顯微鏡來說,要觀察整個表面較為困難。DSX1000可以快速選擇出最合適的觀察方法,從而獲得的圖像。
明場觀察(1500X)、表面觀察和外型尺寸測量可以同時進行
其他分析應用
分析金屬材料橫截面中的特性和缺陷
一個拋光的樣品
解決方案
DSX1000系統與奧林巴斯Stream軟件配合使用時,不論拋光表面是否凹凸不平,都能夠采集整個樣品的全聚焦圖像。
這就避免了重新拋光樣品的需要,從而節省您的時間和精力。
使用傳統物鏡(100X)時,僅能夠部分聚焦樣品 使用DSX1000物鏡(100X)時,不論形狀規則與否,都能夠對整個樣品*聚焦
解決方案
環氧玻璃基層因蝕刻而凹凸不平,使顯微鏡難以清晰聚焦。DSX1000物鏡的景深和分辨率可獲得沿整個橫截面的清晰圖像。
暗場(700X),可以清晰觀察每根玻璃纖維
產品一覽
型號 | 入門型 | 傾斜型 | 高分辨率型 | 型 | ||
![]() | ![]() | ![]() | ![]() | |||
特點 | 具備基本功能,易于操作 | 分析外形不規則樣品的 | 可生成高分辨率圖像以進行高級分析 | 采用多種觀察方法,可分析廣泛的樣品類型 | ||
標準設備 | 顯微鏡電動變焦頭部 | 型變焦頭部 *DIC:微分干涉 *景深 *高分辨率3CMOS模式 | ー | ● | ● | |
標準型變焦頭部 | ● | ● | ー | |||
觀察方法 BF:明場 DF:暗場 OB:偏斜 MIX:MIX POL:偏光 | ● | ● | ● | ● | ||
機架 | 傾斜式機架(±90°) | ー | ● | ー | ● | |
正置式機架 | ● | ー | ● | ー | ||
載物臺 | 可旋轉式電動XY載物臺(±90°) | ー | ● | |||
電動XY載物臺 | ー | ● | ● | ー | ||
手動XY載物臺 | ● | ー | ||||
操控手柄 | ー | ● | ● | ● | ||
物鏡* | 超長工作距離物鏡 | *請參閱物鏡組合 | ||||
長工作距離物鏡 | ||||||
UIS2物鏡 | ||||||
其他 | 應用軟件 | ● | ● | ● | ● | |
校準標樣 | ||||||
控制器PC/顯示器 | ||||||
選配件 | 適配器 | 擴散照明裝置 | □ | □ | □ | □ |
防反射適配器 | □ | □ | □ | □ | ||
軟件 | 邊緣檢測測量軟件 | □ | □ | □ | □ | |
顆粒分析軟件 | □ | □ | □ | □ | ||
其他 | 物鏡盒 | □ | □ | □ | □ |
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