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半導體工業(yè)用紅外測溫儀DA44MF , 50-1400°C

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更新時間：2024-05-16 12:23:11瀏覽次數：129次

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上海皇龍自動化工程有限公司

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產品簡介

晶圓測溫紅外測溫儀50~1400°C, 半導體工業(yè)用測溫儀DA44MF , 50-1000°C, 100~1400°C ，3.5-4.0 μm

詳細介紹

中波低溫紅外測溫儀

晶圓紅外測溫儀

半導體紅外測溫儀
型號：DA44MF

低價格

最小可測光斑直徑：Φ1.6mm

主要特征：

主要性能：

型號	DA44MF
測溫范圍	50 ~1000 °C, 100~1400°C
子測溫范	在測溫范圍內可通過RS485通信接口調節(jié)，最小跨度50°C
光譜范圍	3.5~4.0 µm
光學系數	多種固定光學系數 (100, 300及800), 光圈直徑 D = 15
距離系數	約50 : 1
測量誤差	0.6 %測量值°C或1K 2
重復精度	0.3 % 測量值°C或0.5K 2
NETD	0.1 K 4
響應時間(t₉₅)	5 ms, 可通過RS485通信接口調節(jié)
發(fā)射率	0.050~1.000, 可通過RS485通信接口調節(jié)
存儲方式	最小值、值存儲，可通過RS485通信接口調節(jié)
輸出信號	0/4~20 mA, 線性溫度, 負荷: 700 Ω @24 V
通信接口	RS485 (電隔離), 半雙工, 波特率115 kBd, 數據協(xié)議Modbus RTU
瞄準方式	無，可選：內置LED瞄準燈或外置激光瞄準適配器
軟件	Windows®下PYROSOFT Spot , 可選: PYROSOFT Spot Pro
可調參數	發(fā)射率、響應時間、子測溫范圍，可通過RS485通信接口及軟件調節(jié)
供電電源	24 V DC ± 25 %, 殘留紋波500 mV
功耗	1.5 W (沒有瞄準燈時)
操作溫度	0~70 °C
存儲溫度	–20~70 °C
重量	約450 g
尺寸	螺紋M40 × 1.5, 長度 126 mm
外殼	不銹鋼，帶插頭
防護等級	IP 65 (符合DIN EN 60529及DIN 40050)