高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Te......

詳細(xì)介紹

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)

型號(hào)					TS2-36	TS2-80		TS2-150
性能參數(shù)	高溫室		溫度暴露范圍		+60～＋200℃
			預(yù)熱溫度上限		200℃
			升溫時(shí)間		R.T.→＋200℃約40min
	低溫室		溫度暴露范圍		0～-75℃
			預(yù)冷溫度下限		-75℃
			降溫時(shí)間		R.T.→-70℃約60min
	提籃		溫度范圍		-65～150℃
			溫度波動(dòng)度		≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
			溫度偏差		≤±2℃（-65℃～+150℃）
	轉(zhuǎn)換時(shí)間				≤5S
	溫度回復(fù)時(shí)間				≤5min
	溫度回復(fù) 條件	CTS-50		條件一	高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量5Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min,樣品重量10Kg鋁
		CTS-120		條件一	高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min，樣品重量10Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁
		CTS-180		條件一	高溫暴露+150℃,低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min樣品重量15Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁
結(jié) 構(gòu)	外殼				冷軋鋼板表面噴塑（白）
	內(nèi)膽				不銹鋼板
	隔熱材料				聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)玻璃棉
制冷	制冷方式				風(fēng)冷		水冷
	制冷機(jī)				進(jìn)口壓縮機(jī)
溫度傳感器					鎧裝鉑電阻
控制器					西門(mén)子PLC模塊+7英寸彩色液晶觸摸控制屏。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與功能接口					本機(jī)SD數(shù)據(jù)卡RS485接口、USB接口
提籃尺寸(mm)			D		300	400		500
			W		400	500		600
			H		300	400		500
外部尺寸(mm)			D		2250	2720		2920
			W*		1200	1050		1100
			H		1950	1950		2150
裝機(jī)功率（KW）					19.7KVA	32KVA		36KVA
電源					AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標(biāo)準(zhǔn)配置					產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)1份、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書(shū)各1份、打印紙5只、擱板2層、色帶 1只、帶腳輪。
滿足標(biāo)準(zhǔn)					GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2