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上海華測品標檢測技術有限公司

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芯片防靜電能力檢測

詳細摘要：芯片靜電防護能力ESD測試是半導體產品先期質量驗證的重要關鍵指針，CTI華測檢測已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質認可，ANSI/ESD S2...
產品型號：所在地：更新時間：2023-10-31 在線留言
芯片可靠性驗證

詳細摘要：提供完整的半導體產品可靠性試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務，協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AE...
產品型號：所在地：更新時間：2023-10-31 在線留言
芯片失效分析與*工藝篩片分析(DPA)

詳細摘要：面對數種失效模式，華測蔚思博的失效分析專家，具有豐厚的從業經驗與洞察力?？商婵蛻糁贫ǜ咝У男酒Х治隽鞒?，并提供專業的失效分析診斷報告。
產品型號：所在地：更新時間：2023-10-31 在線留言
電子元器件測試

詳細摘要：電子設備主要是由電子元器件組成的。電子元器件是構成電子設備最小和最基本的單元，電子元器件的可靠性直接影響電子設備可靠性。CTI華測檢測可以針對元器件從無損檢測、...
產品型號：所在地：更新時間：2023-08-10 在線留言
電子輔料測試

詳細摘要：電子產品的早期失效，最主要的原因就是電子輔料的使用不當或者輔料本身的質量造成了產品的質量問題。CTI華測檢測可以針對電子產品加工貼裝工藝中主要的焊錫膏、焊錫條、...
產品型號：所在地：更新時間：2023-08-10 在線留言
PCB&PCBA測試

詳細摘要： PCB以及貼裝后的PCBA是電子信息產品的最關鍵的部分，其質量的好壞與可靠性水平決定了整機設備的質量與可靠性。CTI華測檢測可以從PCB/PCBA的機械性能、電...
產品型號：所在地：更新時間：2023-08-10 在線留言