ｆ=200ｍｍ超小型微分干渉同軸照明無限光學系統TL-200S-OP-NP
1．用途:用于半導體、電子基板、LCD、TFT、PDP等領域的觀察、測量及定位
2．物鏡上方設有DIC棱鏡,照明的橫(側)方向挪動的2個光線分離照明光照在物體上,能立體觀察及根據物體直接反射的2個光線差、明暗的對比,觀察極小的等級差別。光路差成為顏色的變化，微小等級差別的觀察能更加提高靈敏度,更好地提高觀察率。用通常的光學系很難適合觀察(硅片、晶片)的細微傷痕的檢驗，基板的壓接部分的凹凸等觀察、測量。
M Plan APO 物鏡的対應 | ||||||||
1．物鏡固定螺蚊：W26 36牙(36TPI) | 3．本體部：DIC棱鏡盒插口、Analyzer插口 | |||||||
2．照明部：同軸照明、可變亮度光圈、Poraraizarinsart | 4．対應CCD英寸尺寸：1/3、1/2、2/3 | |||||||
可選配的M Plan APO 物鏡 微分觀察推薦2x～10x
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