| 徠卡集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)-Leica DM6 M LIBS性能 | |
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| • DM6 M LIBS系統(tǒng)將光鏡觀察與元素分析合二為一 • 目視和化學(xué)材料檢驗(yàn)，微觀結(jié)構(gòu)成分分析，與電鏡方法相比節(jié)省90% 的時(shí)間 • 材料分析無(wú)需SEM樣品制備，無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié)，無(wú)需重新定位 • 減少工作流程，將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結(jié)果為重點(diǎn) • 多種工具組合起來(lái)分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分，1秒鐘內(nèi)即獲足夠的數(shù)據(jù) • 元素或材料通過(guò)其特征光譜來(lái)識(shí)別 • 組件清潔度分析可快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，做出定性分析 • 微觀結(jié)構(gòu)評(píng)估，更大限度減少了SEM/EDS高昂的樣品制備成本 • 地質(zhì)科學(xué)、電子行業(yè)、新電子材料、涂層等領(lǐng)域均有典型應(yīng)用 • 化學(xué)分析研究利器，DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)使定性化學(xué)分析成為可能 • 對(duì)已有DM6000 M 或 DM6 M顯微鏡可直接改裝升級(jí)為DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)，大大節(jié)約成本 | |
| 徠卡LIBS儀器優(yōu)點(diǎn) | |
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| • 儀器的高可靠性 • 無(wú)需樣品制備的遠(yuǎn)程元素分析 • 可在同一點(diǎn)重復(fù)激光脈沖去除樣品的灰塵和風(fēng)化層 • 可對(duì)多元素同時(shí)分析 • 低檢出限，可檢測(cè)微量元素 • 效率高，快速分析能力 • 只需幾秒鐘一次激發(fā)照射即可獲得用于分析的光譜 • 分析時(shí)間非常短，功耗低 • 直徑小于0.6mm的小分析點(diǎn)尺寸 • 識(shí)別水和/或水合礦物的能力 | |
| 徠卡集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)-Leica DM6 M LIBS相比SEM/EDS的特點(diǎn) |
| 對(duì)比項(xiàng)目 | DM6 M LIBS | SEM/EDS |
| 顏色 | 有 | 無(wú) |
| 效率 | 很高 | 較低 |
| 樣品制備 | 無(wú)需制備 | 需要制備 |
| 檢出限 | 100PPM（0.01%） | 5000PPM（0.5%） |
| 真空 | 無(wú)需 | 需要 |
| 樣品尺寸 | 大 | 較小 |
| 相鑒定 | 快速 | 難 |
| 逐層 | 可 | 不能 |
| 操作 | 簡(jiǎn)單 | 較難 |
| 元素定量 | 定性 | 半定量 |
| 樣品損傷 | 微損傷 | 無(wú)損傷 |
| 放大倍率 | 較低 | 高 |
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