徠卡全手動正置材料金相顯微鏡-LeicaDM3XL檢驗系統，快速檢測，快速響應。在微電子和半導體的檢驗、過程控制或缺陷和故障分析中，檢測速度快，響應速度快。視場寬敞30%，可快速掃描可達6"樣品組件，DM3XL檢驗系統憑借大視場能更快地識別缺陷，提高工作效率。
DM3XL檢驗系統為中等預算用戶提供了高品質，是微電子和半導體理想的檢驗系統。
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