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武漢鑠思百檢測技術有限公司
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儀器名稱：場發射透射電鏡（TEM）型號：TecnaiG2F30/F20JEOL-2100FFIB+球差校正電鏡檢測項目：形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）選區電子衍射（環衍射、點衍射）高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可）EDS能譜（點掃、線掃、面掃）明場、暗場Mapping球差電鏡應用范圍：可以對各種材料的物質內部微結構進行觀察
| 儀器名稱： | 場發射透射電鏡（TEM） | 型號： | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡 |
| 檢測項目： | 形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區電子衍射（環衍射、點衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點掃、線掃、面掃） 明場、暗場 Mapping 球差電鏡 | ||
| 應用范圍： | 可以對各種材料的物質內部微結構進行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術研究，材料粒徑統計，晶體結構及晶體性能進行研究，配合能譜儀可以對各種元素進行定性、及半定量的微區分析，廣泛應用于納米技術、材料、物理、生物、化學、環境、光電子等領域。 | ||
| 制樣要求： | 塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度為200nm以下; 粉末和液體樣品，要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥，粉末樣>0.01g,液體樣>5ml; 生物樣可做超薄冷凍切片制； 金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣； 離子減薄需要樣品機械磨樣到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷凍切片、FIB、鋨酸熏染制樣等需求可進一步咨詢。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。TEM測試要求模板（附本） 點擊下載
測試提示：
1.第三方檢測，可開正規測試發票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷，測試后會對樣品產生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據；請加和技術人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規的樣品，一經發現將追究其法律責任。
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