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武漢鑠思百檢測技術有限公司
固體樣品的微觀形貌、結構,樣品的微區元素成分、線分布、面分布,廣泛應用于納米技術、材料、物理、化學、環境科學等領域。
儀器名稱: | 場發射超高分辨率掃描電鏡(FESEM) | 型號: | SEM(Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS(OxfordX-MAX) |
檢測項目: | 表面形貌觀察(磁性、非磁樣品、生物樣均可), EDS能譜(點掃、線掃、面掃),elements Mapping,EBSD | ||
應用范圍: | 固體樣品的微觀形貌、結構,樣品的微區元素成分、線分布、面分布,廣泛應用于納米技術、材料、物理、化學、環境科學等領域。 塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。 適合導電性不佳的樣品形貌觀察。 | ||
制樣要求: | 樣品尺寸要求:塊狀樣和生物樣,直徑小于26mm,高度小于15mm(樣品中不得含有水分) 粉末樣>0.02g 生物樣品需要提前制好樣,否則不予測試。 |
PS:送樣請附帶“委托測試單”。SEM測試要求模板(附件)
測試提示:
1.可開正規測試發票,附帶測試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷,測試后會對樣品產生哪些變化;
3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通,出現測試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據;請加和技術人員交流:。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規的樣品,一經發現將追究其法律責任。
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