（一）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1. 鍍層檢測(cè)，多鍍層檢測(cè)可達(dá) 5 層，精度及穩(wěn)定性高。

2. 平臺(tái)尺寸：620*525mm，樣品移動(dòng)距離可達(dá) 110*110*5mm。（固定臺(tái)可選）

3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

4. 可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。

5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。

7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)

果。

8. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

9. 軟件*升級(jí)。

10. 無損檢測(cè)，一次性購買標(biāo)樣可長期使用。

11. 使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間 24H 以內(nèi)，提供*保姆式服務(wù)。

（二）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術(shù)指標(biāo)

1. X 射線管：高穩(wěn)定性 X 光光管，微焦點(diǎn) X 射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供良好性能。

2. 探測(cè)器：SDD 探測(cè)器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

3. 濾光片/可選

初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換

7個(gè)準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

（三）X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理