（一）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達 5 層，精度及穩(wěn)定性高。

2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 110*110*5mm。（固定臺可選）

3. 激光定位和自動多點測量功能。

4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。

5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。

6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。

7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)

果。

8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

9. 軟件*升級。

10. 無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。

11. 使用安心無憂，售后服務響應時間 24H 以內(nèi)，提供*保姆式服務。

（二）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術(shù)指標

1. X 射線管：高穩(wěn)定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應用程序提供良好性能。

2. 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

3. 濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片，自動切換

7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

（三）X射線鍍層測厚儀測量原理