鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。適用于費希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒MicroPioneer、精工Seiko、島津、電測、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。

　　鍍層標準片通常作用：　

　　1、用來對膜厚儀工作狀態的準確性和穩定性進行校驗。在膜厚儀測試過程中對膜厚儀運行過程中，確認工作狀態。防止膜厚儀故障狀態時能*時間確認。　

　　2、專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。　

　　軟件測試流程　　

　　一：參數設置　

　　1.峰位校準參數，元素Ag通道552　　

　　1）開機后預熱，步驟為：放入Ag元素片→產品程式→選擇→預熱→開始。　　

　　2）：參數→峰位校準參數→管流設置（0.1準直器設置為3000左右，0.2準直器設置為1000左右，根據不同的準直器，設置合適的管流，保證Ag計數率在2200左右，）　　

　　3）峰位校正：點擊　　

　　→開始→自動進入峰位校正程序，保證Ag峰通道在552，成功后進入校正Cu元素界面，更換Cu元素片，峰通道在198，峰位校正成功。