儀器用途： 倒置型 LWD200-4XI 金相顯微鏡適用于金相學、冶金學專業實驗室的研究。并廣泛應用于集成電路IC行業、電子半導體業。也可用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定，原材料的檢驗或對材料處理后金相的研究分析等工作。本儀器可配用攝影裝置進行顯微攝影。 主要技術參數: 1．單目鏡筒：傾斜60 °，瞳距55mm-75mm 視度±5° 2．平場目鏡：10X/18mm、12.5X/15mm ， 帶0.1mm刻度十字分劃板目鏡WF10X 3．消色差物鏡：4X、10X、、100X（S、O） 金相平場消色差物鏡：40X(S) 4．總放大倍數：40X-1250X 5．載物臺：尺寸200mm*180mm 帶兩塊載物盤Ø10和Ø20mm， 移動范圍 70*50mm 6．調 焦 ：粗微動同軸 升降范圍25mm 微動格值0.002mm，手輪松緊可調節 7．聚焦鏡：柯勒照明 ,濾色片（帶藍、綠、黃三塊濾色片） 8．光 源：可調鹵素燈 6V20W |
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