（拋物面天線）雷達物位計是一款采用脈沖原理非接觸式雷達物位計，可廣泛應用于測量固體料位、過程容器、強粉塵、易結晶、結露場合.

工作原理

測量原理 雷達物位計通過天線發(fā)射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空間傳輸，遇到被測介質(zhì)發(fā)生反射，反射信號被儀表接收，發(fā)射脈沖信號與接收脈沖信號的時間間隔與基準面到被測介質(zhì)表面的距離成正比，通過測量發(fā)射與接收的時間間隔，來實現(xiàn)天線至介質(zhì)表面距離的測量

應 用： 固體料位、過程容器、強粉塵、易結晶、結露場合

頻率范圍： 26GHz

測量范圍： 0-70m

精 度： ±15mm

介質(zhì)溫度： -40...250℃

過程壓力： -0.1...4.0Mpa

過程連接： 螺紋、法蘭

防爆等級： Exia II CT6；Exd II CT6

防護等級： IP67

信號輸出： 4...20mA/HART（兩線/四線）

RS485/Modbus

1 產(chǎn)品概述

1.1 物位測量解決方案

MLRD607系列雷達物位計是一款采用脈沖原理非接觸式雷達物位計，可廣泛應用于測量液體、漿料及粘稠物等的距離、物位、體積、重量及明渠流量，也可用于測量粉末、顆粒、塊狀等固體介質(zhì)。即使在多粉塵、有攪拌的應用場合中，也可以穩(wěn)定測量。

1.2 測量原理

雷達物位計通過天線發(fā)射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空間傳輸，遇到被測介質(zhì)發(fā)生反射，反射信號被儀表接收，發(fā)射脈沖信號與接收脈沖信號的時間間隔與基準面到被測介質(zhì)表面的距離成正比，通過測量發(fā)射與接收的時間間隔，來實現(xiàn)天線至介質(zhì)表面距離的測量。

圖1 測量原理示意圖

①時間1：產(chǎn)生初始脈沖

②時間2：沿喇叭天線向下行進，速度C（光速）

③時間3：脈沖遇到介質(zhì)表面發(fā)生反射

④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄

⑤脈沖信號從被發(fā)射到被接收之間的時間差T，與基準面到介質(zhì)表面的距離D成正比：D=C×T/2

⑥測量的基準面是： 螺紋底面或法蘭的密封面

⑦ A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲

⑧運行時，保證料位不能進入測量盲區(qū)D

1.3 技術優(yōu)勢

R26; 采用高達26GHz的發(fā)射頻率

R26; 高頻率與信噪比，是低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇

R26; 波束角小，能量集中，具有更強抗*力，大大提高了測量精度與可靠性

R26; 測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得優(yōu)異效果

R26; 波長更短，對于小顆粒介質(zhì)與傾斜的介質(zhì)表面的物位測量效果更好

R26; 測量靈敏、刷新速度快、天線尺寸小、安裝簡便、牢固耐用、免維護

R26; 非接觸式測量，無磨損，無污染，可測量液體，固體介質(zhì)的物位

R26; 幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復雜工況的影響

R26; 采用兩線制回路供電的技術，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)省成本

R26; 采用*微處理器和*回波處理技術，可適用于各種復雜工況

R26; 發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體環(huán)境均無傷害

R26; 帶有按鍵的顯示屏可方便設置儀表的參數(shù)

1.4 可應用的行業(yè)：化工與石化、電力、 鋼鐵及冶金、 礦產(chǎn)、造紙及紙漿、水及污水、食品與飲料、 制藥 。

可應用的工況：中間料倉、儲倉、料斗、儲罐、過程罐、攪拌罐、其他。