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CMX DL+測厚儀

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更新時間：2022-08-22 15:12:12瀏覽次數：211次

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北京泛泰克斯儀器有限公司

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產品簡介

The CMX DL+ 測厚儀不僅有MVX的所有功能，而且還有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。

詳細介紹

CMX DL+: 鍵盤
12鍵按鍵
測量范圍
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
帶自動溫度補償的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多層測量(PECT)方式：0.63－508mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
穿透涂層測量(E-E)模式：2.54—102mm（因涂層的不同會有所變化）
僅測量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化）
顯示精度
0.01mm（可方便的進行公制和英制的轉換）
聲速范圍
1250－13995m/s
工作溫度
-10℃—60℃
探頭類型
1—10MHZ雙晶探頭
探頭接口
LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列測厚儀的探頭
通訊接口
RS232接口（配備USB轉RS232接頭）
電池工作時間
150小時（3節5號堿性電池）100小時（3節5號鎳鎘電池）
省電功能
5分鐘無任何操作后能自動關機
顯示屏
62X45.7mm（240 X 160像素），大數字厚度值顯示（厚度值數字高度可達17.78mm）
外觀尺寸
63.5X165X31.5 mm
重量
382 g
顯示精度
合金外殼