DRL-III-Z導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（熱流法、增強(qiáng)型）

一、設(shè)備簡(jiǎn)介

1.1、本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、陶瓷、鋁基板等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹(shù)脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-12（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。

    儀器特點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度。可檢測(cè)不同壓力下熱阻曲線(xiàn)，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。增加可靠性功能測(cè)試，可作材料于長(zhǎng)期反復(fù)加熱的壽命試驗(yàn)。

1.2、設(shè)備工作原理

     儀器主要由熱流測(cè)試頭、試樣厚度測(cè)量系統(tǒng)、壓力測(cè)量系統(tǒng)、電動(dòng)加壓系統(tǒng)、數(shù)據(jù)測(cè)控系統(tǒng)、冷卻恒溫水槽、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成。                                                       

      熱流測(cè)試頭由加熱器、連接樣品的上下熱極、冷卻器、測(cè)量熱電偶、保溫套組成。加熱器為內(nèi)熱式加熱器，由高精度數(shù)顯溫控表控溫，提供穩(wěn)定的熱極溫度。上下熱極表面安裝有熱電偶，熱極的作用是傳遞熱量和測(cè)量熱量。冷卻器內(nèi)有水槽，通過(guò)管導(dǎo)與外恒溫水槽相連，利用外恒溫水槽與冷卻器的水循環(huán)，在冷卻器中形成第二恒溫場(chǎng)，提供下熱極冷端穩(wěn)定溫度。測(cè)量熱電偶由6支組成，分別測(cè)量上下熱極表面的6個(gè)溫度點(diǎn)，利用溫度梯度計(jì)算熱流量。試樣測(cè)厚裝置由位移傳感器和數(shù)字顯示儀表組成，可實(shí)時(shí)檢測(cè)試樣厚度。壓力測(cè)量系統(tǒng)由壓力傳感器和數(shù)字顯示儀表組成，可實(shí)時(shí)檢測(cè)試樣壓力。電動(dòng)加壓系統(tǒng)由電機(jī)、直線(xiàn)減速機(jī)、電子調(diào)速器和控制電路組成，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)加壓和卸載。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)完成數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、儀器控制，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試。

總體結(jié)構(gòu)

外形尺寸：1000*800*1550mm

1.4、配置清單

二、設(shè)備能適應(yīng)的來(lái)料和產(chǎn)品規(guī)格

性能導(dǎo)熱材料。

三、設(shè)備參數(shù)和功能：

3.1、試樣大小：≤Φ30mm；

3.2、試樣厚度：0.3~5mm

3.3、熱極控溫范圍：室溫-200℃，分辨率0.1 ℃

3.4、冷極配用恒溫水槽制冷，恒溫水槽的控溫范圍：0～100.0℃，

3.5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.05~45W/mK；

3.6、熱阻測(cè)試范圍：0.000005～0.05m2*K/W。

3.7、配帶自動(dòng)加壓裝置，壓力測(cè)量范圍：0～1000N；

3.8、采用高精度位移傳感器自動(dòng)檢測(cè)樣品厚度，位移測(cè)量范圍：0～30.00mm；

3.9、測(cè)試精度：±3％；

3.10、實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試。d、增加可靠性功能測(cè)試，可作材料于長(zhǎng)期反復(fù)加熱的壽命試驗(yàn)。

3.11、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。

3.12、測(cè)試時(shí)間：頭一個(gè)樣品約2小時(shí)，后面連續(xù)測(cè)樣約為0.5小時(shí)/個(gè)樣品。

注：需方自備電腦及打印機(jī)。