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二極管浪涌電流電子元器件失效分析測試

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更新時間：2024-01-15 10:36:08瀏覽次數(shù)：391次

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西安長禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司

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聯(lián)系人：胡女士（市場部經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

二極管浪涌電流電子元器件失效分析測試西安長禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市*經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)，是一家從事功率半導(dǎo)體器件測試服務(wù)的，是CNAS 認(rèn)可實驗室，屬于大功率器件測試服務(wù)中心。

詳細(xì)介紹

二極管	1	反向漏電流	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 4016.4	只測： 0～100mA
	1	反向漏電流	半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4016	只測： 0～100mA
	2	反向擊穿電壓	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 4021.2	只測： 0～3.5kV
	3	正向壓降	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 4011.4	只測： IS：0A～6000A
	3	正向壓降	半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4011	只測： IS：0A～6000A
	4	浪涌電流	半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4066	只測： If：0A～9000A
	5	反向恢復(fù)電荷	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3473.1	只測： 1nC～100µC
	5	反向恢復(fù)時間	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3473.1	只測： 10ns～2us
	6	二極管反壓變化率	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3476	只測： VR：5V～3300V， IF：1A～1500A
	7	單脈沖雪崩能量	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 4064	只測： L：0.01mH～159.9mH， IAS：0.1A～1500A
	7	穩(wěn)態(tài)熱阻	半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3136	只測： Ph：0.1W～80W
	8	總電容電荷	半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 IEC 60747-2:2016 6.1.8	只測： -3kV～3kV,0～1MHz