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北京沃達谷科貿有限公司
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簡要描述：奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標......
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。
可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內打√選擇樣品）：
元素 | SL | VL | L | R | H | 元素 | SL | VL | L | R | H |
Na (NaCl) |
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| Co |
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Mg (MgF2) |
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| Ni |
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Al |
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| Cu |
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Si (SiO2) |
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| Zn (ZnTe) |
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P (GaP) |
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| As (GaAs) |
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S (CuSx) |
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| Se |
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Cl (NaCl) |
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| Sr (SrF2) |
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K (KCl) |
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| Br (CsBr) |
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Ca (CaF2) |
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| Cd (CdSe) |
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Sc (ScF3) |
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| Ba (BaF2) |
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Ti |
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| Pb |
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V |
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| Sn |
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Cr |
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| Sb |
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Mn |
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| In |
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Fe |
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| Mo |
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Ag |
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| Hg (HgTe) |
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可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響；采用*標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。
XRF薄膜標準樣品的安裝形式：
代碼 | 外徑(mm) | 內徑(mm) |
25 | 25 | 17 |
32 | 32 | 25 |
36 | 36 | 29 |
47 | 47 | 39 |
*36號尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，內置ø32mm的圓環，代碼50。
代碼 | 支撐膜材料 | 備注 |
N | Nuclepore® polycarbonate | 氣溶膠多孔膜 |
M6.3 | 6.3μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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M3.5 | 3.5μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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B |
A |
鍍膜方式：
代碼 | 鍍膜位置排列 |
A | 安裝環-元素膜-支撐膜 |
B | 元素膜-支撐膜-安裝環 |
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