大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
Map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布，評價薄膜厚度的均一性，可與所有MProble系列的薄膜測厚儀聯用。
厚度測繪臺包含：
1. XY電動載物臺，行程：150mm/200mm/300mm
2. 19英寸鋁制底座
3. 探頭適配器
4. 載物臺控制器
5. 厚度拼圖軟件
薄膜厚度分布圖（厚度以顏色標示）：
厚度測繪軟件：
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