開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界分辨率的測試系統。
     UHV-KP020 是超高真空室的一個補充工具，可靠的和可重復的可輕松獲得，包括高質量的線性，使得探針和樣品的定位變得簡單， 的跟蹤系統在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究，亞單層范圍檢測是很平常的；也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。

開爾文探針的應用領域：
吸附，電池系統，生物學和生物技術，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術，教育，光/熱散發，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術，Oleds，相轉變，感光染色，光伏譜學，高分子半導體，焦熱電，半導體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數工程學；
目前通過我司購買的的開爾文探針測試系統，目前在南昌航空大學工作正常，運行穩定。

我們的開爾文探針系統包括：
□   單點開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境)；
□   掃描開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境)；
□   超高真空(UHV)開爾文探針；
□   濕度控制的腐蝕開爾文探針；

技術參數：
● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探針）
● 用戶自定針尺寸（2-10mm）
● 用戶自定探針長度（法蘭到樣品）
● DN40（2.75''安裝端口）-其他可選
● 50mm手動平移器（100mm可選）
● 真空度2X10-11mbar
● 跟蹤系統自動控制樣品和探針距離
● 過零信● 表面光電壓模塊SPV020和SPS030
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