SunScan 植物冠層分析儀(標準版)通過測量作物冠層PAR值提供了關 于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖
原理：
根據冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數
軟件計算
SunScan 植物冠層分析儀(標準版)主要是通過測量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計算葉面積指數（LAI），軟件中涉及到的參數有：
直射和散射入射輻射光、葉面積指數、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個參數中，天頂角是根據當地的時間、經度和緯度來計算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計的，其他的參數都是直接測量得出的
基本技術指標：
| SS1探測器 | ||
| 探測器工作區(qū)域 | 1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm | |
| 探測器光譜響應 | 400 ~ 700nm (PAR) | |
| 探測器測量時間 | 120ms | |
| 探測器分辨率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |
| 探測器大讀數 | 2500μmol.m-2.s-1 | |
| 精度 | ±10% | |
| 模擬輸出 | 1 mV per μmol. m-2.s-1 | |
| 尺寸和重量 | 1300×100×130mm,1.7kg | |
| 供電 | 4節(jié)五號電池，約使用1年 | |
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| RPDA2手持終端 | ||
| 屏幕 | 1/4VGA屏幕，太陽光下依然顯示清晰 | |
| 操作系統(tǒng) | Windows 6 | |
| 顯示項目 | LAI、PAR平均值、每個傳感器的讀數 | |
| 手持終端工作環(huán)境 | IP67防護等級，-30-60℃ | |
| 電源 | 可充電電池，約使用12小時 | |
| 手持終端存儲 | 支持>100M | |
| 尺寸和重量 | 165×95×45mm，450g | |
環(huán)保在線